[發(fā)明專利]質量分析數(shù)據(jù)解析裝置及程序

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200680004434.2
• 申請日: 2006-04-27
• 公開（公告）號: CN101115991A
• 公開（公告）日: 2008-01-30
• 發(fā)明（設計）人: 山內一夫;山本善丈;梅村佳克
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01N27/62
• 分類號: G01N27/62
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司
• 代理人: 李貴亮

1.一種質量分析數(shù)據(jù)解析裝置，通過對質量分析所取得的質譜數(shù)據(jù)進行解析，來判定該質譜中的各離子峰值的價數(shù)以及同定單一同位素峰值，

該質量分析數(shù)據(jù)解析裝置具備：

(a)質心數(shù)據(jù)作成部件，根據(jù)作為所述質譜數(shù)據(jù)所取得的分布數(shù)據(jù)來作成質心數(shù)據(jù)；和

(b)數(shù)據(jù)解析部件，根據(jù)所述質心數(shù)據(jù)上峰值的出現(xiàn)模式來檢測出質譜上的同位素群，根據(jù)其結果對該同位素群所屬的峰值的價數(shù)進行判定以及對該同位素群的單一同位素峰值進行同定。

2.根據(jù)權利要求1所述的質量分析數(shù)據(jù)解析裝置，其特征在于，

所述數(shù)據(jù)解析部件還具備：

(c)基準峰值指定部件，將所述質心數(shù)據(jù)上的峰值從強度大的峰值起順次指定為用于同定同位素群的基準峰值；

(d)模式匹配部件，將在所述基準峰值的前后排列的峰值的出現(xiàn)模式與規(guī)定的價數(shù)范圍中的同位素群的峰值出現(xiàn)模式進行比較；

(e)同位素群同定部件，當所述模式匹配部件所完成的比較結果為所述基準峰值和其前后排列的峰值的出現(xiàn)模式與所述同位素群的出現(xiàn)模式一致時，對含有該基準峰值的同位素群的價數(shù)進行決定以及對該同位素群所屬的峰值進行決定；

(f)峰值價數(shù)判定部件，將由所述同位素群同定部件所決定的同位素群的價數(shù)決定為該同位素群所屬的峰值的價數(shù)；和

(g)單一同位素峰值同定部件，將該同位素群中質量電荷比最小的峰值作為單一同位素峰值。

3.根據(jù)權利要求2所述的質量分析數(shù)據(jù)解析裝置，其特征在于，

所述同位素群同定部件在決定同位素群所屬的峰值之際，利用針對已匹配的峰值的相對強度作為所述基準峰值或該同位素所屬的峰值，并且對該同位素群所屬的各峰值候補進行選擇。

4.一種程序，使計算機作為權利要求1～3中任一項所述的質量分析數(shù)據(jù)解析裝置發(fā)揮功能。