[發(fā)明專利]測試點查錯方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610165608.5 | 申請日： | 2006-12-08 |
| 公開（公告）號： | CN101196943A | 公開（公告）日： | 2008-06-11 |
| 發(fā)明（設計）人： | 張雪斌;楊淑敏 | 申請（專利權(quán)）人： | 英業(yè)達股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F17/50 | 分類號： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京紀凱知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 程偉;王錦陽 |
| 地址： | 中國臺*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 查錯 方法 | ||
1.一種測試點查錯方法，其應用于數(shù)據(jù)處理裝置中，并搭載至一用以于電路板的通孔上布設測試點的布設應用程序，其特征在于，該測試點查錯方法包括：
在通過該布線應用程序選取欲布設測試點的通孔時，采集該通孔的規(guī)格參數(shù)；
在通過該布線應用程序選取欲于該通孔上進行布設的測試點時，采集該測試點的規(guī)格參數(shù)；以及
將所選取的該通孔的規(guī)格參數(shù)與該測試點的規(guī)格參數(shù)予以對比，且于兩者經(jīng)對比為不匹配時，令該布線應用程序暫停布設測試點的動作，并發(fā)出錯誤提示信息。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試點查錯方法，其特征在于，該規(guī)格參數(shù)系包括有焊墊以及通孔的尺寸。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試點查錯方法，其特征在于，還包括將所選取的通孔的規(guī)格參數(shù)以及測試點的規(guī)格參數(shù)，分別轉(zhuǎn)換為該布設應用程序可識別的第一代碼以及第二代碼，以供后續(xù)將二代碼予以對比。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試點查錯方法，其特征在于，該通孔與該測試點的之對比是指，由該用以表示通孔的規(guī)格參數(shù)的第一代碼與該用以表示測試點的規(guī)格參數(shù)的第二代碼進行逐位對比，且于該第一代碼與第二代碼二者的其中任一位的對應數(shù)字經(jīng)對比不匹配時，發(fā)出一錯誤提示信息。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試點查錯方法，其特征在于，該第一代碼與該第二代碼是由“0”與“1”的二進制數(shù)字組成。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試點查錯方法，其特征在于，該電路板為印刷電路板、封裝基板或多層電路板。
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