[發(fā)明專利]影像壞點(diǎn)像素實(shí)時(shí)檢測(cè)方法

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200610156386.0
• 申請(qǐng)日: 2006-12-29
• 公開（公告）號(hào): CN101212703A
• 公開（公告）日: 2008-07-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 詹振宏
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 華晶科技股份有限公司
• 主分類號(hào): H04N17/00
• 分類號(hào): H04N17/00;H04N5/335
• 代理公司: 北京律誠同業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 梁揮;祁建國

1.一種影像壞點(diǎn)像素實(shí)時(shí)檢測(cè)方法，應(yīng)用于數(shù)字相機(jī)上，其特征在于，該方法至少包含下列步驟：

通過該數(shù)字相機(jī)取得外部的一影像；及

于該影像中仍有未檢測(cè)像素時(shí)，依序選取該影像中一待測(cè)像素及其周邊一相鄰像素組，并執(zhí)行下列步驟：

找出該相鄰像素組中一第一像素與一第二像素計(jì)算一灰階差值；

計(jì)算該相鄰像素組中其余像素的一灰階均值；

以該灰階均值及該灰階差值的和為一高灰階閾，并以該灰階均值與該灰階差值的差為一低灰階閾；及

確認(rèn)該待測(cè)像素的灰階值落于該高灰階閾及該低灰階閾之外時(shí)，設(shè)定該待測(cè)像素為壞點(diǎn)像素。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的影像壞點(diǎn)像素實(shí)時(shí)檢測(cè)方法，其特征在于，該方法還包含確認(rèn)該待測(cè)像素的灰階值落于該高灰階閾及該低灰階閾之間時(shí)，設(shè)定該待測(cè)像素為正常像素。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的影像壞點(diǎn)像素實(shí)時(shí)檢測(cè)方法，其特征在于，該待測(cè)像素為二維3*3影像矩陣的矩陣中心像素。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的影像壞點(diǎn)像素實(shí)時(shí)檢測(cè)方法，其特征在于，該相鄰像素組為除該待測(cè)像素以外的二維3*3影像矩陣的矩陣像素。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的影像壞點(diǎn)像素實(shí)時(shí)檢測(cè)方法，其特征在于，該第一像素及該第二像素為該相鄰像素組中灰階值次高以及灰階值次低的像素，該灰階差值則為該第一像素與該第二像素差值的絕對(duì)值。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的影像壞點(diǎn)像素實(shí)時(shí)檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)該灰階差值低于一預(yù)定灰階閾閾值時(shí)，以該預(yù)定灰階閾閾值作為該灰階差值的步驟。

7.根據(jù)權(quán)利要求5所述的影像壞點(diǎn)像素實(shí)時(shí)檢測(cè)方法，其特征在于，該灰階均值則為該相鄰像素組中除該第一像素及該第二像素以外，其余像素的灰階值的加總平均值。

8.根據(jù)權(quán)利要求5所述的影像壞點(diǎn)像素實(shí)時(shí)檢測(cè)方法，其特征在于，該方法還包含先對(duì)該相鄰像素組中各像素依照其灰階值高低進(jìn)行排序的步驟。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的影像壞點(diǎn)像素實(shí)時(shí)檢測(cè)方法，其特征在于，該方法還包含當(dāng)設(shè)定該待測(cè)像素為壞點(diǎn)像素時(shí)，實(shí)時(shí)執(zhí)行一修復(fù)程序?qū)υ摯郎y(cè)像素進(jìn)行修復(fù)的步驟。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的影像壞點(diǎn)像素實(shí)時(shí)檢測(cè)方法，其特征在于，該方法還包含當(dāng)設(shè)定該待測(cè)像素為壞點(diǎn)像素時(shí)，儲(chǔ)存該待測(cè)像素于該影像的一像素位置信息于儲(chǔ)存媒體的步驟。