[發明專利]發光二極管熒光粉發射光譜測量方法

有效

• 申請號: 200610154739.3
• 申請日: 2006-11-21
• 公開（公告）號: CN101191770A
• 公開（公告）日: 2008-06-04
• 發明（設計）人: 潘建根;沈海平
• 申請（專利權）人: 杭州遠方光電信息有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 浙江翔隆專利事務所
• 代理人: 戴曉翔

【技術領域】

本發明屬于光輻射測量技術領域，具體為一種發光二極管(LED)熒光粉發射光譜測量方法。

【背景技術】

LED(白光LED)被廣泛應用于照明領域，現有的白光LED一般采用藍光LED加LED熒光粉的方法制成，熒光粉的質量直接影響到照明LED產品的質量。因此，對LED熒光粉性能和品質的精確測量與評定，對于控制照明LED產品質量十分重要。

目前對LED熒光粉發射光譜的測量仍采用傳統普通熒光粉的測量方法，比如在熒光燈用稀土三基色熒光粉的測量中，采用253.7nm的紫外低壓汞燈，配以透光峰值波長253.7nm的紫外濾光片作為激發源，激發熒光粉發光，并用光譜輻射測試儀對發出的光進行光譜測量。但是白光LED的發光機理與傳統熒光燈存在很大的不同，因此這種方法對LED熒光粉測量不適用，測量結果誤差很大。

【發明內容】

為了克服現有技術中存在的上述缺陷，本發明提供一種發光二極管熒光粉發射光譜測量方法，以適用于LED熒光粉測試，提高測量精度。

為此，本發明采用以下技術方案：

發光二極管熒光粉發射光譜測量方法，其特征在于它包括以下步驟：

(一)用至少一個LED作為激發源，使其發出的激發光照射到被測熒光粉上而激發熒光粉發光，在被測熒光粉所發出光線的光路上設置一光學接收件以接收熒光粉發出的光。

(二)使用光譜輻射測試儀對光學接收件接收到的光進行光譜測量。

(三)將所測得的光譜數據通過解調分離算法計算得到待測熒光粉的發射光譜。

用LED激發源能準確模擬出LED的使用條件，確保測量結果準確。由于光譜輻射測試儀的帶寬限制，所測得的光譜數據因受到帶寬調制而存在誤差，本發明所采用的解調分離算法能消除帶寬影響，并扣除反射的激發光成分，得到最終的待測熒光粉發射光譜。

作為對上述技術方案的進一步完善和補充，我發明采用如下技術措施：所述的激發源為藍光LED，通用性強，激發效果好。

在LED激發源發光光路上設置聚光透鏡和窄帶濾光片，使激發光通過聚光透鏡和窄帶濾光片后再照射到被測熒光粉上。LED發光的峰值波長隨其工作電流、結點溫度等因素變化而變化，直接使用LED發出的光激發熒光粉，熒光粉發出的光將不穩定，測量結果缺乏可對比性，加了窄帶濾光片后，使激發光變為光譜窄波段的光，其峰值波長更穩定，測量結果更統一準確。聚光透鏡用以會聚光線。

所述的解調分離算法包括以下步驟：

(一)測量待測熒光粉發出的光的光譜S_t(λ)，將待測熒光粉換成標準白板，測量被反射的激發光的光譜S_s(λ)；

(二)將每個波長點λ_i上的光譜數據按下式進行帶寬解調：

St*(λi)=1210St(λi)-110St(λi-1)-110St(λi+1)]]>