[發(fā)明專利]發(fā)光二極管熒光粉發(fā)射光譜測量方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200610154739.3
• 申請日: 2006-11-21
• 公開（公告）號: CN101191770A
• 公開（公告）日: 2008-06-04
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 潘建根;沈海平
• 申請（專利權(quán)）人: 杭州遠方光電信息有限公司
• 主分類號: G01N21/64
• 分類號: G01N21/64
• 代理公司: 浙江翔隆專利事務(wù)所
• 代理人: 戴曉翔

1.發(fā)光二極管熒光粉發(fā)射光譜測量方法，其特征在于它包括以下步驟：

(一)用至少一個LED作為激發(fā)源，使其發(fā)出的激發(fā)光照射到被測熒光粉上而激發(fā)熒光粉發(fā)光，在被測熒光粉所發(fā)出光線的光路上設(shè)置一光學接收件以接收熒光粉發(fā)出的光。

(二)使用光譜輻射測試儀對光學接收件接收到的光進行光譜測量。

(三)將所測得的光譜數(shù)據(jù)通過解調(diào)分離算法計算得到待測熒光粉的發(fā)射光譜。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管熒光粉發(fā)射光譜測量方法，其特征在于：所述的激發(fā)源為藍光LED。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的發(fā)光二極管熒光粉發(fā)射光譜測量方法，其特征在于：在LED激發(fā)源發(fā)光光路上設(shè)置聚光透鏡和窄帶濾光片，使激發(fā)光通過聚光透鏡和窄帶濾光片后再照射到被測熒光粉上。

4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項所述的發(fā)光二極管熒光粉發(fā)射光譜測量方法，其特征在于所述的解調(diào)分離算法包括以下步驟：

(一)測量待測熒光粉發(fā)出的光的光譜S_t(λ)，將待測熒光粉換成標準白板，測量被反射的激發(fā)光的光譜S_s(λ)；

(二)將每個波長點λ_i上的光譜數(shù)據(jù)按下式進行帶寬解調(diào)：

St*(λi)=1210St(λi)-110St(λi-1)-110St(λi+1)]]>

Ss*(λi)=1210Ss(λi)-110Ss(λi-1)-110Ss(λi+1)]]>，其中S_t^*(λ_i)、S_s^*(λ_i)為零帶寬光譜數(shù)據(jù)，S_t(λ_i-1)、S_s(λ_i-1)和S_t(λ_i+1)、S_s(λ_i+1)分別為S_t(λ_i)、S_s(λ_i)在前一個和后一個波長點上的光譜數(shù)據(jù)；

(三)按下式將待測熒光粉的發(fā)射光譜從S_t^*(λ)中分離：S_m(λ)＝S_t*(λ)-S_s*(λ)·k，其中S_m(λ)為待測熒光粉的發(fā)射光譜，k為比例系數(shù)；

(四)將S_m(λ)用平滑算法進行數(shù)據(jù)處理，得到最終的待測熒光粉發(fā)射光譜。