[發明專利]基于三維存儲器進行自測試的集成電路無效
| 申請號： | 200610153562.5 | 申請日： | 2002-09-30 |
| 公開（公告）號： | CN1967723A | 公開（公告）日： | 2007-05-23 |
| 發明（設計）人： | 張國飆 | 申請（專利權）人： | 張國飆 |
| 主分類號： | G11C29/00 | 分類號： | G11C29/00;G11C17/10;G11C16/02 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 610051四川*** | 國省代碼： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 三維 存儲器 進行 測試 集成電路 | ||
【說明書】：
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