[發(fā)明專利]基于三維存儲器進行自測試的集成電路無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610153562.5 | 申請日： | 2002-09-30 |
| 公開（公告）號： | CN1967723A | 公開（公告）日： | 2007-05-23 |
| 發(fā)明（設計）人： | 張國飆 | 申請（專利權）人： | 張國飆 |
| 主分類號： | G11C29/00 | 分類號： | G11C29/00;G11C17/10;G11C16/02 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 610051四川*** | 國省代碼： | 四川;51 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 三維 存儲器 進行 測試 集成電路 | ||
【權利要求書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于張國飆，未經張國飆許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權和技術合作，請聯(lián)系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200610153562.5/1.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
