[發明專利]放射線檢測電路及放射線檢查裝置無效
| 申請號: | 200610151776.9 | 申請日: | 2006-09-11 |
| 公開(公告)號: | CN101143097A | 公開(公告)日: | 2008-03-19 |
| 發明(設計)人: | 青木謙一 | 申請(專利權)人: | 住友重機械工業株式會社 |
| 主分類號: | A61B6/00 | 分類號: | A61B6/00;G01N23/08 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 | 代理人: | 胡建新 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 放射線 檢測 電路 檢查 裝置 | ||
技術領域
本發明涉及一種放射線檢測電路及放射線檢查裝置,特別涉及到檢測來自被檢測體內的放射性同位素的伽馬射線并且同時進行計數的放射線檢測電路及放射線檢查裝置。
背景技術
作為獲得被檢測體的精確信息的裝置,有一種正電子斷層攝影(PET)裝置。使用PET裝置的診斷方法,首先將用正電子(正電子)核素標識后的檢查用藥劑通過注射或吸入等導入被檢測體的體內。導入到體內后的檢查用藥劑在具有與檢查用藥劑相應的機能的特定部位上蓄積。例如,在使用糖類的檢查用藥劑時,有選擇地蓄積于癌細胞等新陳代謝旺盛的部位上。此時,從檢查用藥劑的正電子核素釋放正電子,當所釋放的正電子和周圍的電子結合而消失時2條伽馬射線相互向大約180度的方向放射。因此,通過由配置于被檢測體周圍的伽馬射線檢測器同時檢測該2條伽馬射線,并由計算機等進行處理,來取得被檢測體內放射性同位素的分布圖像數據。由于作為精密診斷裝置使用的CT掃描(計算機斷層攝影)裝置可獲得體內病變等的構造信息,與此相對PET裝置可獲得被檢測體體內的機能信息,因而使各種各樣疑難病癥的病理分析成為可能。
在PET裝置中,在隔著被檢測體的一對伽馬射線檢測器同時檢測到從正電子核素相互向大約180度的方向放射的2條伽馬射線時,將其判定為有效數據。例如,在只檢測出1條同一時刻入射的伽馬射線時,將其作為無效數據予以廢棄。即使有在接近的時刻入射的2條伽馬射線但是存在一定以上的時間差時,將其作為無效數據予以廢棄。因而,為了提高取得效率,需要正確取得伽馬射線入射到伽馬射線檢測器的時刻。
伽馬射線的檢測電路求取在時間軸方向峰值變寬的檢測信號的某個時間點(檢測點),將該檢測點作為伽馬射線的入射時刻。提出了各種各樣的根據檢測信號決定檢測點的檢測電路。例如,將檢測信號達到了規定的峰值的時間點作為檢測點的方法。該方法雖然具有可以由簡單的電路構成檢測電路的優點,但是對于檢測信號的最大峰值和波形不同的檢測信號容易產生檢測點的雜亂。
另一方面,圖1所示的檢測電路100是,通過過零比較器102對由分壓電阻R1、R2分壓檢測信號后的信號Yz和由延遲電路101將檢測信號延遲指定時間后的信號Xz進行比較后,將過零時刻作為檢測點生成輸出信號。這種電路被稱為恒定系數鑒別器(CFD)(例如,參見非專利文獻1。)。
CFD在檢測信號達到一定比例的峰值后的一定的時間后將輸出脈沖進行輸出,并測量輸出了該脈沖的時間點將其作為檢測點。由于可以和檢測信號的峰值本身無關的來決定檢測點,因而具有能抑制檢測點雜亂的特長。
非專利文獻1:2003?IEEE-Nuclear?Science?Symposium,ShortCourse“Pulse?Processing?Overview”pp.10~11(2003?Oct.)
但是,由于圖1所示的檢測電路的延遲電路101通常為多級連接運算放大器來構成,所以需要多個運算放大器,其結果存在使檢測電路變得復雜的缺點。
可是,PET裝置為了提高檢測位置精度和檢測效率,需要將檢測元件微小化并且配置多個檢測元件。于是,由于與檢測元件對應的檢測電路的數量也增加,所以在實用上必須將檢測電路裝載于半導體芯片。圖1所示的延遲電路101的延遲時間有需要根據檢測元件的特性等進行調整的情況。但是,為了調整延遲時間必須變更運算放大器的數量,需要半導體芯片的設計變更并且必須再次制造半導體芯片。其結果為,存在導致PET裝置的制造成本的增加、開發期間的長期化的缺點。并且,在檢測元件的設計變更或使用特性不同的檢測元件時也產生同樣的問題。
發明內容
因此,本發明有鑒于上述缺點,其目的在于提供一種放射線檢測電路及放射線檢查裝置,可以通過簡單的電路來精確檢測伽馬射線入射時刻。
根據本發明的一個觀點,提供一種放射線檢查裝置,其特征為,具備:檢測機構,檢測從包含放射性同位素的被檢測體入射的伽馬射線,并輸出包括伽馬射線的入射時刻的檢測數據;信息處理機構,根據從上述檢測機構所取得的檢測數據之中的有效的檢測數據取得上述放射性同位素在被檢測體內的分布信息,上述檢測機構具有:檢測部,檢測伽馬射線;第1測量部,測量來自上述檢測部的檢測信號的峰值成為與第1閾值相等的第1時刻;第2測量部,測量上述檢測信號的峰值成為與比第1閾值大的第2閾值相等的第2時刻;入射時刻計算部,根據上述第1及第2時刻來計算上述檢測信號的上升開始時刻,并將該自動開始時刻設為入射時刻。
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