[發(fā)明專利]放射線檢測(cè)電路及放射線檢查裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610151776.9 | 申請(qǐng)日: | 2006-09-11 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN101143097A | 公開(kāi)(公告)日: | 2008-03-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 青木謙一 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 住友重機(jī)械工業(yè)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | A61B6/00 | 分類號(hào): | A61B6/00;G01N23/08 |
| 代理公司: | 永新專利商標(biāo)代理有限公司 | 代理人: | 胡建新 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 放射線 檢測(cè) 電路 檢查 裝置 | ||
1.一種放射線檢查裝置,其特征為,具備:
檢測(cè)機(jī)構(gòu),對(duì)從包含放射性同位素的被檢測(cè)體入射的伽馬射線進(jìn)行檢測(cè),輸出包含伽馬射線的入射時(shí)刻的檢測(cè)數(shù)據(jù);
信息處理機(jī)構(gòu),根據(jù)從上述檢測(cè)機(jī)構(gòu)取得的檢測(cè)數(shù)據(jù)之中有效的檢測(cè)數(shù)據(jù),取得上述放射性同位素在被檢測(cè)體內(nèi)的分布信息,
上述檢測(cè)機(jī)構(gòu)具有:
檢測(cè)部,檢測(cè)伽馬射線;
第1測(cè)量部,對(duì)來(lái)自上述檢測(cè)部的檢測(cè)信號(hào)的峰值成為與第1閾值相等的第1時(shí)刻進(jìn)行測(cè)量;
第2測(cè)量部,對(duì)上述檢測(cè)信號(hào)的峰值成為與大于第1閾值的第2閾值相等的第2時(shí)刻進(jìn)行測(cè)量;
入射時(shí)刻計(jì)算部,根據(jù)上述第1及第2時(shí)刻,計(jì)算上述檢測(cè)信號(hào)的上升開(kāi)始時(shí)刻,并將該上升開(kāi)始時(shí)刻設(shè)為入射時(shí)刻。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的放射線檢查裝置,其特征為:
利用第1及第2時(shí)刻和第1及第2閾值計(jì)算上述上升開(kāi)始時(shí)刻。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的放射線檢查裝置,其特征為:
通過(guò)1次回歸計(jì)算上述上升開(kāi)始時(shí)刻。
4.根據(jù)權(quán)利要求1至3之中的任一項(xiàng)所述的放射線檢查裝置,其特征為:
上述檢測(cè)機(jī)構(gòu)還具有,
第1計(jì)時(shí)部,當(dāng)從上述第1時(shí)刻開(kāi)始到第2測(cè)量部測(cè)量第2時(shí)刻為止的時(shí)間長(zhǎng)于規(guī)定時(shí)間時(shí),輸出指示第1時(shí)刻的廢棄的信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1至4之中的任一項(xiàng)所述的放射線檢查裝置,其特征為:
還具有比較部,將上述檢測(cè)信號(hào)的峰值與大于第2閾值的第3閾值進(jìn)行比較,生成指示上升開(kāi)始時(shí)刻的計(jì)算動(dòng)作的信號(hào)。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的放射線檢查裝置,其特征為:
上述檢測(cè)機(jī)構(gòu)還具有,
第2計(jì)時(shí)部,當(dāng)從上述第2時(shí)刻開(kāi)始到檢測(cè)信號(hào)的峰值成為第3閾值為止的時(shí)間長(zhǎng)于另一規(guī)定時(shí)間時(shí),輸出指示廢棄第1及第2時(shí)刻的信號(hào)。
7.根據(jù)權(quán)利要求1至6之中的任一項(xiàng)所述的放射線檢查裝置,其特征為:
還具有波形整形部,在上述檢測(cè)部和第1測(cè)量部之間對(duì)檢測(cè)信號(hào)的波形進(jìn)行整形,
上述波形整形部包含1次至3次的低通濾波器。
8.根據(jù)權(quán)利要求1至7之中的任一項(xiàng)所述的放射線檢查裝置,其特征為:
上述第1閾值被設(shè)定為換算成伽馬射線的能量后在8keV~100keV的范圍。
9.根據(jù)權(quán)利要求1至8之中的任一項(xiàng)所述的放射線檢查裝置,其特征為:
上述檢測(cè)部具備半導(dǎo)體檢測(cè)元件,
上述半導(dǎo)體檢測(cè)元件具有半導(dǎo)體晶體、大致覆蓋上述半導(dǎo)體晶體的一個(gè)面的一個(gè)第1電極、及由設(shè)置于另一面的帶狀的多個(gè)第2電極,從該多個(gè)第2電極分別輸出檢測(cè)信號(hào)。
10.一種放射線檢測(cè)電路,取得入射到放射線檢測(cè)器的伽馬射線的入射時(shí)刻,其特征為,具有:
第1測(cè)量電路,對(duì)來(lái)自上述放射線檢測(cè)器的檢測(cè)信號(hào)的峰值成為第1閾值的第1時(shí)刻進(jìn)行測(cè)量;
第2測(cè)量電路,對(duì)上述檢測(cè)信號(hào)的峰值成為高于第1閾值的第2閾值的第2時(shí)刻進(jìn)行測(cè)量;
入射時(shí)刻計(jì)算電路,根據(jù)上述第1及第2時(shí)刻,計(jì)算上述檢測(cè)信號(hào)的上升開(kāi)始時(shí)刻,并將該上升開(kāi)始時(shí)刻設(shè)為入射時(shí)刻。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的放射線檢測(cè)電路,其特征為:
還具有第1比較電路,對(duì)上述檢測(cè)信號(hào)的峰值與大于第2閾值的第3閾值進(jìn)行比較,生成指示上升開(kāi)始時(shí)刻的計(jì)算動(dòng)作的信號(hào)。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的放射線檢測(cè)電路,其特征為:
上述第1測(cè)量電路具有第2比較電路,檢測(cè)上述檢測(cè)信號(hào)的峰值成為第1閾值的狀況;上述第2測(cè)量電路具有第3比較電路,檢測(cè)上述檢測(cè)信號(hào)的峰值成為第2閾值的狀況,
上述放射線檢測(cè)電路具有:編碼器,對(duì)上述第1比較電路的輸出、上述第2比較電路的輸出及上述第3比較電路的輸出進(jìn)行編碼;譯碼器,對(duì)該編碼器的輸出進(jìn)行譯碼。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的放射線檢測(cè)電路,其特征為:
上述放射線檢測(cè)電路配置于二個(gè)基板上,
在上述半導(dǎo)體檢測(cè)元件側(cè)的基板上,至少設(shè)置上述第1比較電路、上述第2比較電路、上述第3比較電路及上述編碼器,
在上述信息處理機(jī)構(gòu)側(cè)的基板上,至少設(shè)置除上述第2比較電路之外的上述第1測(cè)量電路、除上述第3比較電路之外的上述第1測(cè)量電路、上述入射時(shí)刻計(jì)算電路及上述譯碼器。
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