[發(fā)明專利]FPGA、FPGA配置、調(diào)試系統(tǒng)和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 200610149473.3 | 申請(qǐng)日: | 2006-11-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN101191819A | 公開(公告)日: | 2008-06-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李彧;楊雨東;林國(guó)輝;劉強(qiáng) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 國(guó)際商業(yè)機(jī)器公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/3185 | 分類號(hào): | G01R31/3185;G01R31/317 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務(wù)所 | 代理人: | 李崢;劉瑞東 |
| 地址: | 美國(guó)*** | 國(guó)省代碼: | 美國(guó);US |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | fpga 配置 調(diào)試 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列(FPGA),具有待測(cè)邏輯單元,并包括:
探測(cè)信號(hào)選擇單元,用于從所述待測(cè)邏輯單元中的多個(gè)探測(cè)點(diǎn)中選擇至少一個(gè)探測(cè)點(diǎn),并獲取所述探測(cè)點(diǎn)處的探測(cè)信號(hào);以及
高速串行收發(fā)機(jī),用于將所述探測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)楦咚俅械男盘?hào)并且發(fā)送到外部。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列,還包括:
探測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換單元,當(dāng)所述探測(cè)信號(hào)與所述高速串行收發(fā)機(jī)不匹配時(shí),將所述探測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換為與所述高速串行收發(fā)機(jī)匹配的信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列,其中,所述高速串行收發(fā)機(jī)還接收激勵(lì)信號(hào),所述FPGA還包括:
激勵(lì)信號(hào)選擇單元,用于選擇所述高速串行收發(fā)機(jī)接收到的激勵(lì)信號(hào)或者其它信號(hào)源的信號(hào),施加到所述待測(cè)邏輯單元。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列,還包括:
激勵(lì)信號(hào)轉(zhuǎn)換單元,當(dāng)所述高速串行收發(fā)機(jī)接收到的激勵(lì)信號(hào)與所述激勵(lì)信號(hào)選擇單元不匹配時(shí),將所述激勵(lì)信號(hào)轉(zhuǎn)換為與所述激勵(lì)信號(hào)選擇單元匹配的信號(hào)。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列,其中,所述探測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)換單元轉(zhuǎn)換所述探測(cè)信號(hào)的寬度和時(shí)鐘。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列,其中,所述激勵(lì)信號(hào)轉(zhuǎn)換單元轉(zhuǎn)換所述激勵(lì)信號(hào)的寬度和時(shí)鐘。
7.根據(jù)權(quán)利要求1-6中任何一項(xiàng)所述的現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列,其中,所述高速串行收發(fā)機(jī)將高速串行的信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)榈退俨⑿械男盘?hào)。
8.一種用于調(diào)試現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列的系統(tǒng),包括:
根據(jù)權(quán)利要求1-7中任何一項(xiàng)所述的FPGA;以及
分析裝置,用于接收所述高速串行收發(fā)機(jī)發(fā)出的信號(hào)并進(jìn)行分析。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的用于調(diào)試現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列的系統(tǒng),其中,所述分析裝置還向所述高速串行收發(fā)機(jī)發(fā)送激勵(lì)信號(hào)。
10.一種用于調(diào)試現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列的方法,所述現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列包括待測(cè)邏輯單元,所述方法包括以下步驟:
探測(cè)所述待測(cè)邏輯單元中的至少一個(gè)探測(cè)點(diǎn)處的探測(cè)信號(hào);
將所述探測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)楦咚俅械男盘?hào),發(fā)送給外部的分析裝置;以及
對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行分析。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的用于調(diào)試現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列的方法,還包括以下步驟:
將激勵(lì)信號(hào)以高速串行信號(hào)的方式輸入所述現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列;
將所述高速串行的激勵(lì)信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)榈退俨⑿械募?lì)信號(hào);以及
將所述激勵(lì)信號(hào)施加到所述待測(cè)邏輯單元。
12.根據(jù)權(quán)利要求10或11所述的用于調(diào)試現(xiàn)場(chǎng)可編程門陣列的方法,其中,所述對(duì)所述信號(hào)進(jìn)行分析的步驟包括根據(jù)所述信號(hào)和所述激勵(lì)信號(hào)分析所述待測(cè)邏輯單元的邏輯是否正確。
13.一種FPGA配置數(shù)據(jù)產(chǎn)品,當(dāng)被裝載到FPGA中時(shí)可以使該FPGA具有以下功能模塊:
探測(cè)信號(hào)選擇單元,用于從所述FPGA的待測(cè)邏輯單元中的多個(gè)探測(cè)點(diǎn)中選擇至少一個(gè)探測(cè)點(diǎn),并獲取所述探測(cè)點(diǎn)處的探測(cè)信號(hào);以及
高速串行收發(fā)機(jī),用于將所述探測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)楦咚俅械男盘?hào)并且發(fā)送到外部。
14.一種配置FPGA的方法,包括將配置數(shù)據(jù)裝載到FPGA中,以使該FPGA具有以下功能模塊:
探測(cè)信號(hào)選擇單元,用于從所述FPGA的待測(cè)邏輯單元中的多個(gè)探測(cè)點(diǎn)中選擇至少一個(gè)探測(cè)點(diǎn),并獲取所述探測(cè)點(diǎn)處的探測(cè)信號(hào);以及
高速串行收發(fā)機(jī),用于將所述探測(cè)信號(hào)轉(zhuǎn)變?yōu)楦咚俅械男盘?hào)并且發(fā)送到外部。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的方法,其中,所述高速串行收發(fā)機(jī)還接收激勵(lì)信號(hào),所述方法進(jìn)一步包括將配置數(shù)據(jù)裝載到FPGA中以使所述FPGA具有以下功能模塊:
激勵(lì)信號(hào)選擇單元,用于選擇所述高速串行收發(fā)機(jī)接收到的激勵(lì)信號(hào)或者其它信號(hào)源的信號(hào),施加到所述待測(cè)邏輯單元。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 調(diào)試系統(tǒng)、調(diào)試方法和調(diào)試控制方法
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