[發明專利]內嵌存儲器芯片測試方法

無效

• 申請號: 200610116561.3
• 申請日: 2006-09-27
• 公開（公告）號: CN101154468A
• 公開（公告）日: 2008-04-02
• 發明（設計）人: 陳婷;陳凱華;謝晉春;桑浚之;辛吉升
• 申請（專利權）人: 上海華虹NEC電子有限公司
• 主分類號: G11C29/44
• 分類號: G11C29/44
• 代理公司: 上海浦一知識產權代理有限公司
• 代理人: 顧繼光

技術領域

本發明涉及一種集成電路中芯片測試領域，尤其是一種內嵌存儲器芯片測試方法。

背景技術

測試芯片的過程中，由于測試系統的故障，如測試儀故障、探針卡損壞等，會導致硅片中某些芯片測試結果異常，這種情況下必須對異常芯片進行重新測試。但是由于目前沒有區別測試正常或異常芯片的方法，只能對硅片中所有測試的芯片進行重新測試。

在這種情況下，已有技術的測試方法會消耗很多人力和時間，造成生產成本的增加。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種內嵌存儲器芯片測試方法，能夠區分測試異常的芯片和測試正常的芯片，從而在重新測試時只要對測試異常的芯片進行復測，減少測試所消耗的時間和人工成本。

為解決上述技術問題，本發明內嵌存儲器芯片測試方法所采用的技術方案是，包括以下步驟：第一步，對內嵌存儲器芯片進行初次測試；第二步，判斷初步測試結果，對初步測試正常并且測試結果為合格的芯片的內嵌存儲器中客戶不使用的區域寫入不同于存儲器中原有數值的值，對初步測試不正常或者測試結果為失效的芯片的內嵌存儲器中相應位置保持原有的值；第三步，通過測試儀讀取第一步中內嵌存儲器芯片相應位置的值，若該值為寫入的特定的值則將該芯片剔除出復測列表，若該值不為寫入的特定的值則對該芯片進行復測；第四步，對復測正常并且測試結果為合格的芯片的內嵌存儲器中客戶不使用的區域寫入不同于存儲器中原有數值的值，對復測不正常或者測試結果為失效的芯片的內嵌存儲器中相應位置保持原有的值。

本發明通過在初步測試正常并且測試結果為合格的芯片的內嵌存儲器中寫入特定的值，從而達到區別測試正常芯片和測試異常芯片的目的，在復測時只需要對測試異常芯片進行測試，減少測試所需要的時間，降低成本，提高生產效率。

附圖說明

下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步詳細的說明：

圖1為本發明流程示意圖；

圖2為硬件測試系統結構示意圖；

圖3為不同測試結果的被測芯片在測試后存儲器變化示意圖。

具體實施方式

如圖1所示，本發明內嵌存儲器芯片測試方法包括以下步驟：第一步，對內嵌存儲器芯片進行初次測試。如圖2所示，測試所用的硬件測試系統包括對測試系統進行整體控制的大型邏輯測試儀50、自動探針臺30固定專用探針卡10以及測試頭40對芯片進行測試。第二步，如圖3所示，判斷初步測試結果，對初步測試正常并且測試結果為合格的芯片的內嵌存儲器中客戶不使用的區域寫入不同于存儲器中原有數值的值，如寫入十六進制數5a5a，對初步測試不正常或者測試結果為失效的芯片的內嵌存儲器中相應位置保持原有的值；第三步，通過測試儀讀取第一步中內嵌存儲器芯片相應位置的值，讀取5a5a成功表明該芯片初次測試合格，則自動在復測列表中剔除該芯片，對于那些讀取5a5a失敗的芯片進行復測；第四步，對復測正常并且測試結果為合格的芯片的內嵌存儲器中客戶不使用的區域寫入5a5a，對復測不正常或者測試結果為失效的芯片的內嵌存儲器中相應位置保持原有的值。如果復測過程中還存在異常，則重復第三步和第四步的步驟，直到所有芯片測試正常。

本發明通過在初步測試正常并且測試結果為合格的芯片的內嵌存儲器中寫入特定的值，對測試正常芯片的測試結果予以保留，不再進行測試，只對異常芯片復測，避免了復測造成的另一次測試異常。利用本發明方法不僅可以測出異常芯片，而且可以避免測試過程中的重復測試，節約生產成本，提高生產效率。