[發(fā)明專利]內(nèi)嵌存儲器芯片測試方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610116561.3 | 申請日： | 2006-09-27 |
| 公開（公告）號： | CN101154468A | 公開（公告）日： | 2008-04-02 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 陳婷;陳凱華;謝晉春;桑浚之;辛吉升 | 申請（專利權(quán)）人： | 上海華虹NEC電子有限公司 |
| 主分類號： | G11C29/44 | 分類號： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 上海浦一知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人： | 顧繼光 |
| 地址： | 201206上*** | 國省代碼： | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 存儲器 芯片 測試 方法 | ||
1.一種內(nèi)嵌存儲器芯片測試方法，其特征在于，包括以下步驟：第一步，對內(nèi)嵌存儲器芯片進行初次測試；第二步，判斷初步測試結(jié)果，對初步測試正常并且測試結(jié)果為合格的芯片的內(nèi)嵌存儲器中客戶不使用的區(qū)域?qū)懭氩煌诖鎯ζ髦性袛?shù)值的值，對初步測試不正常或者測試結(jié)果為失效的芯片的內(nèi)嵌存儲器中相應(yīng)位置保持原有的值；第三步，通過測試儀讀取第一步中內(nèi)嵌存儲器芯片相應(yīng)位置的值，若該值為寫入的特定的值則將該芯片剔除出復(fù)測列表，若該值不為寫入的特定的值則對該芯片進行復(fù)測；第四步，對復(fù)測正常并且測試結(jié)果為合格的芯片的內(nèi)嵌存儲器中客戶不使用的區(qū)域?qū)懭氩煌诖鎯ζ髦性袛?shù)值的值，對復(fù)測不正常或者測試結(jié)果為失效的芯片的內(nèi)嵌存儲器中相應(yīng)位置保持原有的值。
2.如權(quán)利要求1所述的內(nèi)嵌存儲器芯片測試方法，其特征在于，在第四步之后增加以下步驟：重復(fù)第三步和第四步。
3.如權(quán)利要求1所述的內(nèi)嵌存儲器芯片測試方法，其特征在于，第二步和第四步中，在測試正常并且測試結(jié)果為合格的芯片內(nèi)嵌存儲器中寫入的值為十六進制數(shù)5a5a。
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