[發明專利]靜電放電測試裝置及方法

有效

• 申請號: 200610111188.2
• 申請日: 2006-08-10
• 公開（公告）號: CN101122621A
• 公開（公告）日: 2008-02-13
• 發明（設計）人: 江進君
• 申請（專利權）人: 華碩電腦股份有限公司
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01R29/00;G01R31/00
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司
• 代理人: 任永武

技術領域

本發明有關一種靜電放電測試技術，且特別是有關一種靜電放電測試裝置及其方法。

背景技術

靜電放電(Electrostatic?Discharge，ESD)是造成大多數的電子組件或電子系統受到過度電性應力(Electrical?Overstress，EOS)破壞的主要因素。這種破壞會導致半導體組件以及計算機系統等，產生誤動作或形成一種永久性的毀壞，因而影響集成電路(Integrated?Circuits，ICs)的電路功能，而使得電子產品工作不正常。因此，目前市面上所見的電子產品均須通過電磁兼容測試中的靜電放電測試后才能販售。目前在進行靜電放電測試時，通常是利用符合法規規范的靜電仿真器(electrostatic?discharge?generator，ESD?generator)(又稱為靜電槍)來產生靜電，以放電至待測產品，借此測試產品是否有靜電放電缺陷。

一般來說，在利用一調整至默認值(例如：4KV)的靜電槍進行靜電放電測試時，是將靜電槍碰觸待測產品的外部殼體的一處，以使得靜電電荷能夠分布至整個產品。若待測產品仍然可以正常操作，則代表待測產品通過測試。若待測產品在進行靜電放電測試后，待測產品因此而無法操作或產生誤動作的情形，則代表該待測產品有靜電放電缺陷。然而，在進行測試時，靜電槍是與待測產品的外部殼體碰觸，因此無法輕易得知在待測產品內部那一個地方發生靜電問題。例如：利用靜電槍對一個計算機主機的殼體表面打入靜電電荷，結果該計算機主機馬上死機。此時，測試人員往往無法馬上得知該計算機主機死機的原因，更無法直接找出是因為計算機主機的主機板上的那一個電子組件發生問題。

因此，目前在進行靜電放電測試時，往往需要依靠測試人員的經驗來推測出發生靜電問題之處，然后反復檢測可能導致產品誤動作的相關組件。如此，將非常耗費人力及檢測工時。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的是提供一種靜電放電測試裝置及其方法，用以尋找待測物中測試失敗對象。主要利用數條導線來作為靜電脈沖的放電路徑，借以定義待測物受靜電影響的區域。如此一來，提高尋找待測物中測試失敗對象的精確度外，還大幅度節省工時及成本并增加產品良率。

根據本發明的目的，提出一種靜電放電測試裝置，包括測試平臺及數條導線。測試平臺用以放置待測物，數條導線布設于測試平臺。當靜電脈沖被提供至這些導線的其中一導線且待測物發生誤動作時，則待測物中對應導線的一區域內具有測試失敗對象。

根據本發明的目的，提出一種靜電放電測試方法，用以尋找待測物中測試失敗對象。首先，放置待測物于布設有數條導線的測試平臺。接著，提供靜電脈沖至這些導線的其中一導線。最后，若待測物發生誤動作，則待測物中對應導線的一區域內具有測試失敗對象。

為讓本發明的上述目的、特征、和優點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，并配合附圖進行詳細說明如下：

附圖說明

圖1是依照本發明第一實施例的靜電放電測試裝置的示意圖。

圖2是依照本發明第二實施例的靜電放電測試裝置與靜電產生單元的示意圖。

圖3A是依照本發明第三實施例的靜電放電測試裝置的示意圖。

圖3B是圖3A的待測物D的另一置放角度示意圖。

圖4是依照本發明的靜電放電測試方法的流程圖。

具體實施方式

第一實施例

請參照圖1，其是依照本發明第一實施例的靜電放電測試裝置的示意圖。靜電放電測試裝置100包括測試平臺110、靜電產生單元120、開關元件130、及接地接口140，其中測試平臺110布設有多條導線。

上述測試平臺110與接地接口140耦接，以使得測試平臺100接地，也即測試平臺110可通過接地接口140來將其所累積的靜電電荷導入接地端，以避免測試平臺110因多次輸入靜電脈沖P而累積過多靜電，導致使用者可能受到危害。

開關元件130分別耦接測試平臺110的這些導線與靜電產生單元120。測試平臺110具有一表面S，用以放置處于正常操作狀態的待測物D(以虛線框表示)。于本實施例中，測試平臺110為一印刷電路板(printed?circuit?board，PCB)，在其它實施例中，測試平臺110也可為其它能夠布設這些導線的等效裝置。于本實施例中，待測物D為計算機裝置的主機板，在其它實施例中，待測物D可為筆記本計算機、手機、或個人數字助理裝置(PDA)。