[發明專利]靜電放電測試裝置及方法有效
| 申請號： | 200610111188.2 | 申請日： | 2006-08-10 |
| 公開（公告）號： | CN101122621A | 公開（公告）日： | 2008-02-13 |
| 發明（設計）人： | 江進君 | 申請（專利權）人： | 華碩電腦股份有限公司 |
| 主分類號： | G01R29/08 | 分類號： | G01R29/08;G01R29/00;G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海專利商標事務所有限公司 | 代理人： | 任永武 |
| 地址： | 臺灣省臺北*** | 國省代碼： | 中國臺灣;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 靜電 放電 測試 裝置 方法 | ||
1.一種靜電放電測試裝置，包括：
一測試平臺，用以放置一待測物；以及
多條導線，布設于該測試平臺；
其中，當一靜電脈沖被提供至這些導線的其中一導線且該待測物發生誤動作時，則該待測物中對應該導線的一區域內具有一測試失敗對象。
2.如權利要求1所述的靜電放電測試裝置，其特征在于還包括一耦接該測試平臺的接地接口，以使得該測試平臺接地。
3.如權利要求1所述的靜電放電測試裝置，其特征在于該靜電脈沖由一靜電產生單元提供，且該靜電產生單元提供該靜電脈沖至這些導線的其中一導線時，該靜電產生單元與該導線接觸。
4.如權利要求1所述的靜電放電測試裝置，其特征在于還包括一靜電產生單元與一開關元件，該開關元件分別耦接該靜電產生單元與這些導線，以供該靜電產生單元通過該開關元件的操作，來提供該靜電脈沖至這些導線的其中一導線。
5.如權利要求1所述的靜電放電測試裝置，其特征在于這些導線位于該測試平臺的一平面且這些導線相互平行。
6.如權利要求1所述的靜電放電測試裝置，其特征在于這些導線包括多條第一導線及多條第二導線，這些第一導線位于一第一平面，這些第二導線位于一第二平面，且該第一平面與該第二平面為不同平面。
7.如權利要求6所述的靜電放電測試裝置，其特征在于這些第一導線與這些第二導線形成一二維平面，以能利用該二維平面獲得該測試失敗對象的坐標。
8.一種靜電放電測試方法，包括下述步驟：
(a)放置一待測物于一布設有多條導線的測試平臺；
(b)提供一靜電脈沖至這些導線的其中一導線；以及
(c)若該待測物發生誤動作，則該待測物中對應該導線的一區域內具有一測試失敗對象。
9.如權利要求8所述的靜電放電測試方法，其特征在于于該步驟(a)中，這些導線位于該測試平臺的一平面且這些導線相互平行。
10.如權利要求8所述的靜電放電測試方法，其特征在于于該步驟(c)之后，該靜電放電測試方法還包括：
轉動該待測物一預設角度，使得這些導線與該待測物的相對位置不同，繼而再次分別提供該靜電脈沖至這些導線的其中一導線。
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