[發明專利]一種評價球鎳快速充放電性能的方法

無效

• 申請號: 200610109967.9
• 申請日: 2006-08-25
• 公開（公告）號: CN101131416A
• 公開（公告）日: 2008-02-27
• 發明（設計）人: 李永勝
• 申請（專利權）人: 比亞迪股份有限公司
• 主分類號: G01R31/36
• 分類號: G01R31/36;G01R31/00
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司
• 代理人: 王鳳桐;吳德明

技術領域

本發明是關于一種評價球鎳快速充放電性能的方法，更具體的說是關于一種評價用作二次鎳氫/鎳鎘電池正極材料的球鎳快速充放電性能的方法。

背景技術

電動工具電池是目前鎳氫、鎳鎘二次電池的主要應用領域之一，快速充放電能力是電動工具電池的一個基本要求。而球鎳(即球形氫氧化鎳，通常為β-晶型結構)是當前鎳氫、鎳鎘二次電池采用的主要正極活性材料，球鎳的快速充放電能力的好壞，直接影響鎳氫、鎳鎘二次電池的快速充放電能力。對二次鎳氫、鎳鎘電池生產廠家來說，準確了解和正確評價二次鎳氫、鎳鎘電池正極原材料球鎳的快速充放電能力，對電池原材料的正確選用、降低生產成本及提高產品質量都是相當重要的；而要全面評價球鎳的快速充放電能力，通常的辦法是把被測試的球鎳樣品按照正常的生產工藝做成樣品電池或模擬電池，然后進行快速充放電性能測試，這種辦法雖然得到的數據是可靠的，但一個最大的缺點是：其實驗周期長，不能滿足電池生產廠家來料檢驗的實際需求。

發明內容

本發明的目的是為了克服現有球鎳快速充放電性能評價方法周期長的缺點，提供一種能夠快速有效地評價球鎳快速充放電性能的方法。

本發明提供了一種評價球鎳快速充放電性能的方法，其中，該方法包括(A)獲取球鎳晶體參數值；(B)設定球鎳晶體參數值范圍；及(C)判斷球鎳晶體參數值是否在設定的球鎳晶體參數值范圍內；當上述球鎳晶體參數值在相應的設定的球鎳晶體參數值范圍內時，判定該球鎳的快速充放電性能滿足電池需要，其中，所述球鎳晶體參數值包括至少一個晶面的衍射峰寬度值及至少一個晶面的衍射晶面間距值。

根據本發明提供的方法，只需從球鎳的晶體結構入手，判斷球鎳的晶體參數值是否在上述設定的球鎳晶體參數值范圍內即可有效判斷球鎳的快速充放電性能，從而能夠大大縮短球鎳快速充放電性能是否滿足電池需要的判斷時間，這對鎳氫/鎳鎘電池生產廠家正確選用原材料、縮短來料測試檢驗周期都具有重要的意義。而且上述方法只需使用常用的XRD衍射方法一次即可測出該方法所需的球鎳晶體參數，因而大大簡化了操作步驟。

附圖說明

圖1為本發明實施例1-6中測得的球鎳樣品的XRD衍射圖。

具體實施方式

根據本發明，所述衍射峰寬度值可以是球鎳晶體各個晶面的衍射峰寬度值，例如可以是圖1所示的001晶面或101晶面。所述衍射峰寬度值可以是衍射峰的積分寬值，也可以是衍射峰的半峰寬值。雖然積分寬值與半峰寬值具有相同的物理意義，但對于同一個衍射峰，用不同方式表示的寬度值不一樣，因此衍射峰寬度值對應的參數值范圍也不相同，本發明優選101衍射晶面的衍射峰半峰寬值(以下稱FWHM₁₀₁)，設定的該球鎳晶體參數值范圍優選為大于等于0.70°，更優選為大于等于0.75°。

所述晶面間距值是指晶體內任意晶面的間距，優選為球鎳晶體001衍射晶面之間的間距(以下稱d₀₀₁)。本發明所述d₀₀₁的設定的球鎳晶體參數值范圍優選為大于等于4.64埃，更優選為大于等于4.66埃。