[發明專利]一種評價球鎳快速充放電性能的方法

無效

• 申請號: 200610109967.9
• 申請日: 2006-08-25
• 公開（公告）號: CN101131416A
• 公開（公告）日: 2008-02-27
• 發明（設計）人: 李永勝
• 申請（專利權）人: 比亞迪股份有限公司
• 主分類號: G01R31/36
• 分類號: G01R31/36;G01R31/00
• 代理公司: 北京潤平知識產權代理有限公司
• 代理人: 王鳳桐;吳德明

1.一種評價球鎳快速充放電性能的方法，其特征在于，該方法包括：

(A)獲取球鎳晶體參數值；

(B)設定球鎳晶體參數值范圍；及

(C)判斷球鎳晶體參數值是否在設定的球鎳晶體參數值范圍內；當上述球鎳晶體參數值在相應的設定的球鎳晶體參數值范圍內時，判定該球鎳的快速充放電性能滿足電池需要，其中，所述球鎳晶體參數值為至少一個晶面的衍射峰寬度值及至少一個晶面的衍射晶面間距值。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述晶面的衍射峰寬度值為101晶面衍射峰半峰寬值，設定的101晶面衍射峰半峰寬值的參數值范圍為大于等于0.70°；所述晶面的衍射晶面間距值為001衍射晶面間距值，設定的001衍射晶面間距值的參數值的范圍為大于等于4.64埃。

3.根據權利要求2所述的方法，其中，設定的101晶面衍射峰半峰寬值的參數值范圍為大于等于0.75°，設定的001衍射晶面間距值的參數值的范圍為大于等于4.66埃。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，所述衍射峰寬度值及衍射晶面間距值由X射線粉末衍射法測定。

5.根據權利要求4所述的方法，其中，所述X射線粉末衍射法的測量條件為銅X-射線源，波長λ＝1.54056埃，Cu/Kα1，Cu靶的使用功率為40KV、20mA；使用石墨單色器；測角儀的掃描速率為4度/分，掃描范圍2θ＝15°-65°，掃描方式為θ/2θ聯動掃描；掃描步徑0.02度/步；光路發散狹縫為1°、防散射狹縫為10毫米、可變狹縫為儀器自動調整、接收狹縫為0.3毫米。