[發(fā)明專利]對電路器件進(jìn)行不加電測試的方法和裝置無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610087450.4 | 申請日： | 2006-06-08 |
| 公開（公告）號： | CN1896754A | 公開（公告）日： | 2007-01-17 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 肯尼思·P·帕克;克里斯·R·雅各布森 | 申請（專利權(quán)）人： | 安捷倫科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/02 | 分類號： | G01R31/02;G01R31/312 |
| 代理公司： | 北京東方億思知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人： | 王怡 |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 美國;US |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電路 器件 進(jìn)行 不加電 測試 方法 裝置 | ||
【說明書】：
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