[發明專利]對電路器件進行不加電測試的方法和裝置無效
| 申請號： | 200610087450.4 | 申請日： | 2006-06-08 |
| 公開（公告）號： | CN1896754A | 公開（公告）日： | 2007-01-17 |
| 發明（設計）人： | 肯尼思·P·帕克;克里斯·R·雅各布森 | 申請（專利權）人： | 安捷倫科技有限公司 |
| 主分類號： | G01R31/02 | 分類號： | G01R31/02;G01R31/312 |
| 代理公司： | 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 王怡 |
| 地址： | 美國加利*** | 國省代碼： | 美國;US |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 電路 器件 進行 不加電 測試 方法 裝置 | ||
【權利要求書】：
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