[發明專利]可同時多顆平行置入測試的IC檢測機

有效

• 申請號: 200610083838.7
• 申請日: 2006-06-01
• 公開（公告）號: CN101082633A
• 公開（公告）日: 2007-12-05
• 發明（設計）人: 張簡榮力
• 申請（專利權）人: 鴻勁科技股份有限公司
• 主分類號: G01R1/02
• 分類號: G01R1/02;G01R31/28
• 代理公司: 北京科龍寰宇知識產權代理有限責任公司
• 代理人: 孫皓晨

1.一種可同時多顆平行置入測試的IC檢測機，其主要包括有：

至少一供料匣：是承置有復數個待測的IC；

至少一收料匣：是供承置完測的IC；

至少一測試埠：所述的測試埠的下方裝設有連結測試訊號到中央控制器的測試板，所述的測試板上并設有可供待測IC置入以進行IC的測試作業的復數個測試座；

軌道傳送機構：是橫跨架設在測試埠的周側，并在軌道傳送機構上區別有入料區、測試區與出料區；

第一載送治具：是承置在軌道傳送機構的一側，而可由軌道傳送機構移送到入料區與測試區間，以進行入料與測試作業，所述的第一載送治具并排列設有可以同時承置多顆待測IC的復數個承置座；

第二載送治具：是承置在軌道傳送機構的另一側，而可由軌道傳送機構移送到出料區與測試區之間，以進行出料作業，所述的第二載送治具并排列設有可以同時承置多顆完測IC的復數個承置座；

至少一IC輸送機構：是設有可作多方向位移而可在供料匣、收料匣與第一、第二載送治具之間吸取移置IC的取放頭。

2.根據權利要求1所述的可同時多顆平行置入測試的IC檢測機，其特征在于：所述的測試埠內的測試板上的測試座對應第一、二載送治具的承置座設置，其數量相同。

3.根據權利要求1所述的可同時多顆平行置入測試的IC檢測機，其特征在于：第一、二載送治具對應各區進行入料、測試與出料作業。

4.根據權利要求1所述的可同時多顆平行置入測試的IC檢測機，其特征在于：所述的IC輸送機構的取放頭是設有可以同時吸取移置多顆的IC的復數支吸嘴。

5.根據權利要求1所述的可同時多顆平行置入測試的IC檢測機，其特征在于：所述的IC輸送機構是包括有分別吸取移置IC的輸入端IC輸送機構與輸出端IC輸送機構。

6.根據權利要求5所述的可同時多顆平行置入測試的IC檢測機，其特征在于：所述的輸入端IC輸送機構是將待測IC由供料匣吸取移置到第一載送治具。

7.根據權利要求5所述的可同時多顆平行置入測試的IC檢測機，其特征在于：所述的輸出端IC輸送機構是將完測IC由第二載送治具吸取移置到收料匣。

8.根據權利要求1所述的可同時多顆平行置入測試的IC檢測機，其特征在于：所述的收料匣包括良品收料匣與不良品收料匣。

9.根據權利要求1所述的可同時多顆平行置入測試的IC檢測機，其特征在于：所述的測試埠內是設有可升降并可以吸取待測IC同時下降壓入測試板使其接腳接觸測試板的測試座接點以進行測試作業的吸嘴。