[發(fā)明專利]沉積環(huán)退火處理方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200610029905.7 | 申請日: | 2006-08-10 |
| 公開(公告)號: | CN100560791C | 公開(公告)日: | 2009-11-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 陳順發(fā);張強 | 申請(專利權(quán))人: | 中芯國際集成電路制造(上海)有限公司 |
| 主分類號: | C23C14/58 | 分類號: | C23C14/58;H01L21/02 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 逯長明 |
| 地址: | 201203*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 沉積 退火 處理 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種沉積環(huán)退火處理方法。
背景技術(shù)
薄膜沉積(Thin?Film?Deposition)技術(shù)已是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)所廣泛應(yīng)用的技術(shù)之一。薄膜沉積技術(shù)可分為物理氣相沉積(Physical?Vapor?Deposition,PVD)以及化學(xué)氣相沉積(Chemical?Vapor?Deposition,CVD)。前者主要是藉由物理現(xiàn)象進行薄膜沉積,而后者主要是以化學(xué)反應(yīng)的方式進行薄膜沉積。
圖1為現(xiàn)有沉積設(shè)備的支撐裝置的剖面示意圖,如圖1所示,支撐裝置位于沉積反應(yīng)室10內(nèi),此支撐裝置包括支撐臺40和沉積環(huán)30;欲進行薄膜沉積的基板20置于支撐臺40上,且位于沉積環(huán)30的內(nèi)部。沉積環(huán)可拆卸地配置于支撐臺上。沉積環(huán)的主要作用為避免薄膜沉積于支撐臺上未被基板覆蓋的部分,以保證沉積過程中反應(yīng)室內(nèi)的真空度,同時還可節(jié)省清理支撐臺所需的時間與成本,以提高基板進行薄膜沉積的產(chǎn)量;此外,沉積環(huán)還起到進一步固定基板的作用。
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域,現(xiàn)有的沉積環(huán)通常由陶瓷材料構(gòu)成,沉積環(huán)應(yīng)用于實際生產(chǎn)前,為釋放表面應(yīng)力,以避免在沉積過程中應(yīng)力集中部位會產(chǎn)生變形、裂紋或開裂,需經(jīng)過退火處理。退火處理是指將欲處理材料升溫至充分高的溫度,再將其慢慢冷卻;加溫過程中,材料內(nèi)部粒子隨溫度的升高變?yōu)闊o序狀,內(nèi)能增加,而在慢慢冷卻過程中材料內(nèi)部粒子漸趨有序,在每個溫度都達到平衡態(tài),最后降溫至常溫時達到基態(tài),內(nèi)能減為最小。即退火處理是以減小內(nèi)能的方式釋放表面應(yīng)力,以使沉積環(huán)適應(yīng)實際生產(chǎn)的需要。
圖2為現(xiàn)有技術(shù)中沉積環(huán)退火處理流程示意圖,如圖2所示,現(xiàn)有的沉積環(huán)退火處理方法為:首先,將沉積環(huán)由常溫升溫至200攝氏度,升溫時間控制為0.5小時;然后,升溫至200攝氏度后,維持此溫度2小時;最后,將沉積環(huán)由200攝氏度降溫至常溫,降溫時間控制為2小時。
圖3為現(xiàn)有技術(shù)中晶片沉積缺陷示意圖,如圖3所示,實際生產(chǎn)發(fā)現(xiàn),利用PVD方法沉積鋁(AL)膜時,晶片50邊緣處鋁膜60表面易形成沉積缺陷70,研究發(fā)現(xiàn),由于沉積環(huán)的退火溫度僅為200攝氏度,而沉積過程中反應(yīng)室溫度超過300攝氏度,由此判斷此沉積缺陷形成的原因為:沉積環(huán)內(nèi)陶瓷材料部分組分在沉積反應(yīng)室溫度下?lián)]發(fā),造成在沉積過程中除了被沉積的原子被轟擊外,還有其他成分的原子撞擊基片表面,而引起鋁膜沉積不均勻。
申請?zhí)枮椤?2806155.1”的中國專利申請中提供了一種沉積環(huán)處理方法,為釋放表面應(yīng)力進行退火處理的溫度范圍為120-300攝氏度,退火時間為1-4小時。該方法提供的退火溫度范圍仍低于沉積過程中反應(yīng)室溫度,仍無法控制沉積環(huán)內(nèi)陶瓷材料部分組分在沉積反應(yīng)室溫度下的揮發(fā),由此,需要一種沉積環(huán)退火處理方法,可用以控制沉積環(huán)內(nèi)陶瓷材料部分組分在沉積過程處理溫度下的揮發(fā)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供了一種沉積環(huán)退火處理方法,可在沉積過程發(fā)生前去除在沉積溫度下易揮發(fā)的沉積環(huán)內(nèi)陶瓷材料部分組分。
本發(fā)明提供的一種沉積環(huán)退火處理方法,包括:
確定沉積反應(yīng)室溫度;
將沉積環(huán)由常溫升溫至退火溫度,所述退火溫度高于沉積反應(yīng)室溫度;
維持退火溫度;
將沉積環(huán)由退火溫度降至常溫。
所述將沉積環(huán)由常溫升溫至退火溫度的升溫時間范圍為1~4小時;所述退火溫度高于所述沉積反應(yīng)室溫度,且低于沉積環(huán)材料熔點;所述退火溫度范圍為300~1200攝氏度;所述維持退火溫度的時間范圍為4~10小時;所述將沉積環(huán)由退火溫度降至常溫的降溫時間范圍為2~8小時。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有以下優(yōu)點:
1.本發(fā)明方法提供的退火溫度高于沉積反應(yīng)室溫度,可在沉積過程發(fā)生前去除在沉積溫度下易揮發(fā)的沉積環(huán)內(nèi)陶瓷材料部分組分,減少沉積時沉積環(huán)內(nèi)陶瓷材料的揮發(fā),保證沉積過程中真空室內(nèi)的真空度,有效控制沉積缺陷的產(chǎn)生;
2.本發(fā)明方法提供的沉積環(huán)退火溫度持續(xù)時間長,可保證在沉積溫度下易揮發(fā)的沉積環(huán)內(nèi)陶瓷材料部分組分的充分揮發(fā),減少沉積過程中沉積環(huán)內(nèi)陶瓷材料的揮發(fā);沉積環(huán)退火處理的升溫及降溫時間長,可避免造成沉積環(huán)在短時間內(nèi)溫度變化過快,致使沉積環(huán)內(nèi)各部分具有不均勻的應(yīng)力分布,以保證沉積環(huán)表面應(yīng)力的緩慢釋放,避免沉積環(huán)表面產(chǎn)生變形、裂紋、開裂或其他破壞;
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C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C14-00 通過覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理





