[發明專利]用于表明粒子流的特征的系統和方法

無效

• 申請號: 200580049688.1
• 申請日: 2005-07-21
• 公開（公告）號: CN101171513A
• 公開（公告）日: 2008-04-30
• 發明（設計）人: D·皮耶里;J·利斯納;A·呂埃格;P·蓋斯比勒
• 申請（專利權）人: 比勒股份公司
• 主分類號: G01N33/10
• 分類號: G01N33/10;G01N15/02;G01N15/14;G01N1/20;B02C4/32;B02C4/28;B02C25/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 張兆東

技術領域

本發明涉及一種系統和方法用以表明粒子流的特征，其中檢測至少各單個粒子的形狀、尺寸或運動行為。

背景技術

在粒子流中涉及一粉末狀至顆粒狀的散裝物料的流動，特別是谷物、面粉、糖、顏料、化學產品、藥品、放射灰塵、煤煙粒子、有機色料粉末等。

在研磨顆粒狀物質例如小麥或糖時在一輥式破碎機座中在一對碾輥的各碾輥之間破碎顆粒狀物質。為了獲得例如一確定的細度的面粉一般必須將碾磨物料多次導過一這樣的通道，同時在這期間通過風力分選和篩選分級。這樣可以獲得例如具有不同的細度或不同的碾碎度的面粉。

一通道的碾磨作用主要取決于一對碾輥的兩碾輥之間的縫隙間距。但也具有其它的輥式破碎機座工作參數影響通道的碾碎作用。因此值得期望的是，得到在一確定的通道后流出的碾磨物料的特征。如果此時發生碾磨物料對一碾磨物料的額定特征的偏差，則可以從該偏差出發實施縫隙間距或必要時另一輥式破碎機座工作參數的校正，以便盡可能快地重新消除該偏差。

發明內容

本發明的目的在于，提供一種系統和方法，其能夠在一輥式破碎機座中表明粒子流、特別從一碾磨通道中流出的碾磨物料的特征。

按照權利要求1所述的系統和按照權利要求33所述的方法達到該目的。

本發明的系統包括一提取裝置用以從粒子流中取出一樣品；一顯示部分用以輸送和顯示取出的樣品；一檢測裝置用以檢測通過顯示部分輸送的樣品；和一分析裝置用以分析檢測的樣品。

本發明的方法具有以下步驟：從粒子流中取出一樣品；在一顯示部分中輸送和顯示取出的樣品；檢測通過顯示部分輸送的樣品；和分析檢測的樣品。

按這種方式可以獲得粒子流、特別從一碾磨通道中流出的碾磨物料的特征。

優選在提取裝置的下游和在顯示部分上游或顯示部分中設置一解聚集部分用以分解樣品中的粒子料團。。由此防止由許多粒子構成的料團被虛假地檢測和識別為大粒子。

提取裝置可以經由一氣動管道連接于顯示部分，使可以通過氣動管道和顯示部分沿一流動路徑輸送樣品，按這種方式本發明的系統也可以在碾磨廠內安裝在一遠離輥式破碎機座的位置，借此增大在一碾磨設備的設計時創造的自由度。

符合目的地顯示部分具有兩個對置的壁，在它們之間形成一間隙，其中兩個對置的壁優選是相互平行設置的平面表面。

符合目的地上述的氣動管道在一通口區域內通入對置的各壁之間形成的間隙內，其中流動路徑在通口區域內優選具有一方向變化。由此引起在氣動管道的輸送氣體中隨帶的碾磨物料在管道壁上的碰撞，這有助于可能存在的料團的解聚集。流動路徑的方向變化特別在30°與90°之間并優選在80°與90°之間。這在隨帶的粒子上在其轉向碰撞時導致特別大的沖量變化并從而導致一特別顯著的碰撞作用。

符合目的地檢測裝置具有一攝像機用以檢測電磁輻射或電磁頻率，特別是光頻率，其中攝像機優選指向間隙或向間隙對準。

按照第一方案，顯示部分的對置的各壁可以透過可被攝像機檢測的電磁輻射、特別是光頻率。因此攝像機可以按選擇在間隙的任一側設置在一壁的后面。

在該第一設置中，攝像機在間隙的一側在間隙下游設置在兩個能透射的壁的其中一個上，并且一用于電磁輻射的能源、特別是光源，為了可由攝像機檢測的電磁輻射，在間隙的另一側在間隙下游設置在兩個能透射的壁的另一個上，從而通過間隙輸送的樣品的粒子由電磁輻射照射并且樣品的粒子的陰影或投影進入攝像機的視域。

按照第二方案，顯示部分的兩個對置的壁中第一壁可以透過可由攝像機檢測的電磁輻射、特別是光頻率，而第二壁不能透過可由攝像機檢測的電磁頻率、特別是光頻率并且是比樣品的粒子更強地吸光。

在該第二設置中，攝像機在間隙的一側在間隙下游設置在能透射的壁上，并且一用于電磁輻射的能源、特別是光源，為了可由攝像機檢測的電磁輻射，在間隙的同一側在間隙下游設置在能透射的壁上，從而照射通過間隙輸送的樣品的粒子并且樣品的粒子的散射光或反射進入攝像機的視域。

在此有利的是，第二壁的間隙側的表面比粒子的表面對由能源發射的電磁輻射具有更強的吸收作用。由此確保，在間隙側的表面前面運動的反射的粒子與由壁反射的光之間具有足夠多的反差，從而可以輕而易舉地實現成像的粒子的檢測并且顯著地便于接著的圖像處理。這在圖像處理時節省昂貴的和費時間的過濾過程。