[發(fā)明專利]用于表明粒子流的特征的系統(tǒng)和方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200580049688.1 | 申請日： | 2005-07-21 |
| 公開（公告）號： | CN101171513A | 公開（公告）日： | 2008-04-30 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | D·皮耶里;J·利斯納;A·呂埃格;P·蓋斯比勒 | 申請（專利權(quán)）人： | 比勒股份公司 |
| 主分類號： | G01N33/10 | 分類號： | G01N33/10;G01N15/02;G01N15/14;G01N1/20;B02C4/32;B02C4/28;B02C25/00 |
| 代理公司： | 中國國際貿(mào)易促進委員會專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人： | 張兆東 |
| 地址： | 瑞士烏*** | 國省代碼： | 瑞士;CH |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 表明 粒子 特征 系統(tǒng) 方法 | ||
1.用于表明粒子流的粒子的特征的系統(tǒng)，該系統(tǒng)具有：
一提取裝置(8)用以從粒子流中取出一樣品(1)；
一顯示部分(10)用以輸送和顯示取出的樣品(1)；
一檢測裝置(12、24)用以檢測通過顯示部分(10)輸送的樣品(1)；和
一分析裝置(14)用以分析檢測的樣品(1)。
2.按照權(quán)利要求1所述的系統(tǒng)，其特征在于，在提取裝置(8)的下游和在顯示部分(10)上游或顯示部分中設(shè)置一解聚集部分(16)用以分解樣品(1)中的粒子料團。
3.按照權(quán)利要求1或2所述的系統(tǒng)，其特征在于，提取裝置(8)經(jīng)由一氣動管道(18)連接于顯示部分(10)，使得樣品(1)可以通過氣動管道(18)和顯示部分(10)沿一流動路徑輸送。
4.按照權(quán)利要求1至3之一項所述的系統(tǒng)，其特征在于，顯示部分(10)具有兩個對置的壁(20、22)，在它們之間形成一間隙。
5.按照權(quán)利要求4所述的系統(tǒng)，其特征在于，兩個對置的壁(20、22)具有相互平行設(shè)置的平面表面。
6.按照權(quán)利要求4或5所述的系統(tǒng)，其特征在于，氣動管道(18)在一通口區(qū)域(19)內(nèi)通入對置的各壁(20、22)之間形成的間隙(10)內(nèi)。
7.按照權(quán)利要求6所述的系統(tǒng)，其特征在于，在通口區(qū)域(19)內(nèi)流動路徑具有一方向變化。
8.按照權(quán)利要求7所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述方向變化在30°與90°之間。
9.按照權(quán)利要求8所述的系統(tǒng)，其特征在于，所述方向變化在80°與90°之間。
10.按照權(quán)利要求1至9之一項所述的系統(tǒng)，其特征在于，檢測裝置具有一攝像機(12)用以檢測電磁輻射或電磁頻率、特別是光頻率。
11.按照權(quán)利要求10所述的系統(tǒng)，其特征在于，攝像機(12)指向間隙(10)。
12.按照權(quán)利要求10或11所述的系統(tǒng)，其特征在于，顯示部分(10)的對置的各壁(20、22)可以透過可被攝像機(12)檢測的電磁輻射、特別是光頻率。
13.按照權(quán)利要求12所述的系統(tǒng)，其特征在于，攝像機(12)在間隙(10)的一側(cè)在間隙下游設(shè)置在兩個能透射的壁的其中一個(20)上，并且一用于電磁輻射的能源(24)、特別是光源，為了可由攝像機(12)檢測的電磁輻射，在間隙(10)的另一側(cè)在間隙下游設(shè)置在兩個能透射的壁的另一個(22)上，從而通過間隙(10)輸送的樣品(1)的粒子由電磁輻射照射并且樣品(1)的粒子的陰影或投影進入攝像機(12)的視域。
14.按照權(quán)利要求10或11所述的系統(tǒng)，其特征在于，顯示部分(10)的兩個對置的壁(20、22)中第一壁(20)可以透過可由攝像機(12)檢測的電磁輻射、特別是光頻率，而第二壁(22)不能透過可由攝像機(12)檢測的電磁頻率、特別是光頻率并且是比樣品的粒子更強地吸光。
15.按照權(quán)利要求14所述的系統(tǒng)，其特征在于，攝像機(12)在間隙(10)的一側(cè)在間隙下游設(shè)置在能透射的壁(20)上，并且一用于電磁輻射的能源(24)、特別是光源，為了可由攝像機(12)檢測的電磁輻射，在間隙(10)的同一側(cè)在間隙下游設(shè)置在能透射的壁(20)上，從而照射通過間隙(10)輸送的樣品(1)的粒子并且樣品(1)的粒子的散射光或反射進入攝像機(12)的視域。
16.按照權(quán)利要求15所述的系統(tǒng)，其特征在于，第二壁(22)的間隙側(cè)的表面比粒子的表面對由能源(24)發(fā)射的電磁輻射具有更強的吸收作用。
17.按照權(quán)利要求12至16之一項所述的系統(tǒng)，其特征在于，為兩個對置的壁(20、22)分別配置一凈化裝置，借此凈化裝置兩個對置的壁可以解除在其上粘附的粒子。
18.按照權(quán)利要求17所述的系統(tǒng)，其特征在于，凈化裝置是一振動源、特別是超聲波源，其分別與兩個對置的壁剛性連接，以便可以使兩個壁(20、22)處于振動。
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