[發(fā)明專(zhuān)利]重復(fù)測(cè)試電組件的方法和機(jī)器

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200580044419.6
• 申請(qǐng)日: 2005-11-21
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101103426A
• 公開(kāi)（公告）日: 2008-01-09
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: D·J·加西亞;金京英;L·洛曼
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 電子科學(xué)工業(yè)公司
• 主分類(lèi)號(hào): H01H31/02
• 分類(lèi)號(hào): H01H31/02
• 代理公司: 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 趙蓉民

1.一種用于自動(dòng)測(cè)試電子組件(12，120)的參數(shù)以確定所述組件(12，120)是否具有可接受的參數(shù)值的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其采用自動(dòng)電子組件測(cè)試機(jī)(2)，該自動(dòng)電子組件測(cè)試機(jī)(2)具有至少第一和第二測(cè)量位置，可在這些位置測(cè)量所述電子組件(12，120)的參數(shù)，其中，當(dāng)所述參數(shù)值實(shí)際上是可接受的時(shí)候，測(cè)試程序本身可能錯(cuò)誤地導(dǎo)致所述參數(shù)值看起來(lái)不可接受，所述方法包括：

將所述組件(12，120)放置在所述第一測(cè)量位置；

在所述第一測(cè)量位置測(cè)量所述組件(12，120)的所述參數(shù)，由此生成第一被測(cè)參數(shù)值；

將所述組件(12，120)放置在所述第二測(cè)量位置；

在所述第二測(cè)量位置測(cè)量所述組件(12，120)的所述參數(shù)，由此生成第二被測(cè)參數(shù)值；

只有當(dāng)所有被測(cè)參數(shù)值都不可接受時(shí)，才拒絕所述組件(12，120)，由此，所述方法錯(cuò)誤拒絕所述組件(12，120)的總概率比如果只執(zhí)行單個(gè)測(cè)試步驟而錯(cuò)誤拒絕所述組件(12，120)的總概率要小。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其中所述組件(12，120)是電容器。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其中所述電容器是MLCC。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其中所述參數(shù)是AC損耗參數(shù)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其中所述AC損耗參數(shù)是耗散因數(shù)。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其中給定的單個(gè)測(cè)量可能錯(cuò)誤指出所述組件(12，120)是不可接受的概率可歸因于所述測(cè)量步驟引入的附加電阻。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，進(jìn)一步包括：

重復(fù)所述放置和測(cè)量步驟，以使得這些步驟總共被執(zhí)行N次，其中N大于等于3。

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其中所述放置步驟包括：

在兩個(gè)電觸點(diǎn)之間，定位所述組件(12，120)；

通過(guò)所述電觸點(diǎn)檢測(cè)電量，其中所述電量與被測(cè)參數(shù)相關(guān)；和

從所檢測(cè)的電量得出被測(cè)參數(shù)值。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其中所述第一放置步驟期間所使用的所述電觸點(diǎn)中的至少一個(gè)觸點(diǎn)不同于所述第二放置步驟期間所使用的所述電觸點(diǎn)中的至少一個(gè)觸點(diǎn)。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其中所述第一放置步驟期間所使用的所述電觸點(diǎn)中的至少一個(gè)觸點(diǎn)不同于所述第二放置步驟期間所使用的所述電觸點(diǎn)中的至少一個(gè)觸點(diǎn)，并且其中所述方法進(jìn)一步包括：

在所述第一和所述第二測(cè)量步驟之間清潔所述電觸點(diǎn)中的一個(gè)或更多個(gè)。

11.根據(jù)權(quán)利要求8所述的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其中當(dāng)所述參數(shù)值實(shí)際上是可接受的時(shí)候，所述兩個(gè)電觸點(diǎn)中的一個(gè)或兩個(gè)上的污物可使得測(cè)量步驟錯(cuò)誤地導(dǎo)致所述被測(cè)參數(shù)值看起來(lái)不可接受。

12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其中所述第一和第二測(cè)量位置彼此略微偏離開(kāi)。

13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其中所述第一和第二測(cè)量位置大致相同并且所述方法進(jìn)一步包含：

在所述測(cè)量步驟之間略微振動(dòng)所述組件(12，120)。

14.根據(jù)權(quán)利要求12所述的方法(1000，1100，1200，1300，1400)，其中所述第一和第二測(cè)量位置大致相同并且所述方法進(jìn)一步包括：

在所述第二測(cè)量位置上測(cè)量所述組件(12，120)的所述參數(shù)的步驟期間，在所述測(cè)量步驟之間略微振動(dòng)所述組件(12，120)，由此生成第二被測(cè)參數(shù)值。