[發明專利]氮化鎵化合物半導體發光元件及其制造方法有效
| 申請號: | 200580041110.1 | 申請日: | 2005-10-21 |
| 公開(公告)號: | CN101084583A | 公開(公告)日: | 2007-12-05 |
| 發明(設計)人: | 李鐘覽 | 申請(專利權)人: | 首爾OPTO儀器股份有限公司;浦項工科大學校產學協力團 |
| 主分類號: | H01L33/00 | 分類號: | H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京中原華和知識產權代理有限責任公司 | 代理人: | 壽寧 |
| 地址: | 韓國*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 氮化 化合物 半導體 發光 元件 及其 制造 方法 | ||
技術領域
本發明涉及一種基于氮化鎵(gallium?nitride,GaN)的藍光發光二極管(light?emitting?diode,LED)及其制造方法。更明確地說,本發明涉及一種垂直GaN?LED元件及其制造方法。
背景技術
最近,使用GaN半導體的LED已被主要希望用來取代現有光源(例如,白熾燈、熒光燈和汞燈)。因此,已集中進行了對高功率GaN?LED的研究。一般來說,用于制造GaN?LED的襯底以這樣一種方式來配置:n型GaN?12、未摻雜InGaN(作用層(active?layer14)和p型GaN?16依次生長在藍寶石襯底10上,如圖1所示。由于藍寶石襯底10為非導電性的,因而LED元件通常具有水平結構,如圖2所示。此處,參考標號18、20、22和24分別表示P型透明電極、P型墊(pad)、N型電極和N型墊。
在此類情況下,當處于高功率操作中時,電流擴展電阻較高,且因此其光學輸出降級。另外,不能平穩地移除在操作元件時生成的熱量,且因此元件的熱穩定性降級,借此造成與高功率操作有關的問題。為了克服此問題并實施高功率GaN?LED,已提議一種使用倒裝芯片(flip-chip)封裝方法的倒裝芯片LED,且當前進行了使用。在圖3所示的倒裝芯片LED的情況下,從作用層14發射的光發射穿過藍寶石襯底10。因此,由于可使用厚p型歐姆電極19來代替透明電極18,因而可降低其電流擴展電阻。此處,參考標號25、30及32分別表示焊料(solder)、散熱片(heat?sink)及導電座(conducting?mount)。然而,由于倒裝芯片結構必須以倒裝芯片的形式進行包裝,因而制造過程較復雜。另外,由于在光發射穿過藍寶石襯底10時,從作用層14發射的大量光吸收在藍寶石中,因而其光學效率也被降級。
發明內容
技術問題
因此,構思本發明以解決以上問題。本發明的一目的在于提供一種氮化鎵(gallium?nitride,GaN)化合物半導體發光元件(LED)及其一種制造方法,其中在垂直GaN?LED下側形成多層金屬支撐件,以借此實現容易的芯片分離,且絕緣膜和金屬保護膜層依次形成在元件側表面上,以借此實現對于外延生長的GaN襯底的保護。
本發明的另一目的在于提供一種GaN化合物半導體LED及其一種制造方法,其中p型反射膜電極以網格形式部分地形成在p-GaN上,且反射層插入在其間,以使得作用層中所形成的光子可最大程度地朝向n-GaN層發射。
本發明的又一目的在于提供一種GaN化合物半導體LED及其一種制造方法,其中使用金屬襯底、導電層襯底或導電陶瓷襯底來代替藍寶石襯底,以有效地將在操作元件時生成的熱量釋放到外部,以使得所述LED能適于高功率應用。
本發明的再一目的在于提供一種GaN化合物半導體LED及其一種制造方法,其中InGaN層中所生成的光子發射穿過n-GaN層,以向光子提供短路徑,使得可降低在發射時吸收的光子數目。
本發明的再一目的在于提供一種GaN化合物半導體LED及其一種制造方法,其中可獲得到達n-GaN層中的高摻雜濃度(>1019/cm3),以借此改進n-GaN層的導電性,且使得能夠增強其光學輸出特性。
技術解決方案
根據用于達成所述目的的本發明的一方面,提供一種發光元件,其包括:金屬支撐層;P型反射膜電極,其處于所述金屬支撐層上;P型半導體層、作用層和N型半導體層,其依次形成在所述P型反射膜電極上;N型電極,其形成在所述N型半導體層上;絕緣膜,其至少形成在N型半導體層的側面上;和金屬保護層,其用于保護P型和N型半導體層。
根據本發明的另一方面,提供一種發光元件,其包括:金屬支撐層;反射層,其形成在所述金屬支撐層上;P型反射膜電極,其以網格形式形成在所述反射層上;P型半導體層、作用層和N型半導體層,其依次形成在包含P型反射膜電極的反射層之上;N型電極,其形成在N型半導體層上的所需區域處;絕緣膜,其至少形成在N型半導體層的側面上;和金屬保護層,其用于保護P型和N型半導體層。
優選地,金屬支撐層具有多層支撐結構。
所述發光元件可進一步包括保護層,所述保護層形成在N型半導體層、作用層和P型半導體層的側面和/或底面的一部分上。所述發光元件可進一步包括抗反射層,所述抗反射層覆蓋在P型半導體層、作用層和N型半導體層周圍。
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