[發(fā)明專(zhuān)利]用于檢測(cè)光管理膜的系統(tǒng)和方法以及制造光管理膜的方法

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 200580040640.4
• 申請(qǐng)日: 2005-09-19
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN101065657A
• 公開(kāi)（公告）日: 2007-10-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: K·P·卡帕爾多;Y·胡;C·楊;Y·張
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 通用電氣公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01N21/958
• 分類(lèi)號(hào): G01N21/958;G01N21/88;G01M11/00
• 代理公司: 中國(guó)專(zhuān)利代理(香港)有限公司
• 代理人: 段曉玲;趙蘇林

背景技術(shù)

在平板顯示器(例如背光計(jì)算機(jī)顯示器)中，光管理膜(也可稱(chēng)為片、層、箔等等)通常用于例如，引導(dǎo)、漫射和/或偏振光線。例如，在背光顯示器中，包括光改向結(jié)構(gòu)的光管理膜，又可稱(chēng)為增亮膜，可利用所述光改向結(jié)構(gòu)(例如，棱鏡結(jié)構(gòu))引導(dǎo)光沿著視軸(即與顯示器成法向(垂直)的軸)方向。這提高了顯示器使用者觀看到的光亮度，并使得所述系統(tǒng)在形成所需水平的軸向照明時(shí)消耗較少的功率。這類(lèi)膜還可廣泛用于其它的光學(xué)設(shè)計(jì)，例如投影顯示器、交通信號(hào)和照明標(biāo)志。

在制造和/或處理包括光改向結(jié)構(gòu)的光管理膜時(shí)，會(huì)賦予該光管理膜各種缺陷。光管理膜的光改向本性會(huì)使得檢測(cè)光管理膜中的這些缺陷很困難。例如，光管理膜的光改向本性會(huì)造成不聚焦的圖像(例如，模糊圖像、扭曲圖像等等)。典型的通過(guò)人或者相機(jī)進(jìn)行的檢測(cè)不完全足以可靠地捕獲給定光管理膜樣品中的所有相關(guān)缺陷。這包括在受限(有限)的觀看和照明角度集合下檢測(cè)所述膜。

本領(lǐng)域需要的是一種用于檢測(cè)光管理膜的改進(jìn)系統(tǒng)和方法。更特別地，本領(lǐng)域需要的是一種用于檢測(cè)包括光改向結(jié)構(gòu)的光管理膜的改進(jìn)系統(tǒng)和方法。

發(fā)明概述

本文公開(kāi)了用于檢測(cè)光管理膜的系統(tǒng)和方法，以及制造該光管理膜的方法。

檢測(cè)光管理膜的方法的一種實(shí)施方案包括將來(lái)自于頭頂光源的光從光管理膜的第一面反射出并檢測(cè)所述光管理膜的缺陷；引導(dǎo)來(lái)自于背光光源的透射光通過(guò)所述光管理膜的第二面到達(dá)第一面并檢測(cè)所述光管理膜的缺陷；將來(lái)自于所述頭頂光源的光從所述光管理膜的第二面反射出并檢測(cè)所述光管理膜的缺陷；引導(dǎo)來(lái)自于所述背光光源的透射光通過(guò)所述光管理膜的第一面到達(dá)第二面并檢測(cè)所述光管理膜的缺陷；以及測(cè)量各測(cè)得缺陷在光管理膜中的位置。

用于檢測(cè)光管理膜的系統(tǒng)的一種實(shí)施方案包括包括第一板表面和第二板表面的工作板；設(shè)置得接近于所述第二板表面并與所述工作板光學(xué)連接的背光光源，其中所述背光光源能夠用作透射光源使得透射光可透過(guò)所述第二板表面到達(dá)第一板表面；以及設(shè)置得接近于所述第一板表面的頭頂光源，其中所述頭頂光源和背光光源設(shè)置在所述工作板的相反側(cè)上，并且其中所述頭頂光源能夠用作反射光源，使得當(dāng)所述光管理膜設(shè)置成與所述第一板表面物理連接時(shí)反射光可從所述光管理膜上反射出。

制造光管理膜的方法的一種實(shí)施方案包括形成含有設(shè)置在所述光管理膜表面上的光改向結(jié)構(gòu)的光管理膜；檢測(cè)所述光管理膜，其中檢測(cè)包括將來(lái)自頭頂光源的光從所述光管理膜第一面反射出并檢測(cè)所述光管理膜的缺陷；引導(dǎo)來(lái)自于背光光源的透射光通過(guò)所述光管理膜的第二面到達(dá)第一面，并檢測(cè)所述光管理膜的缺陷；將來(lái)自于所述頭頂光源的光從所述光管理膜的第二面反射出并檢測(cè)所述光管理膜的缺陷；引導(dǎo)來(lái)自于所述背光光源的透射光通過(guò)所述光管理膜的第一面到達(dá)第二面，并檢測(cè)所述光管理膜的缺陷；以及測(cè)量各測(cè)得缺陷在光管理膜中的位置；將所述測(cè)得缺陷分類(lèi)；將所述分類(lèi)的缺陷與預(yù)定的缺陷集合相比較以確定所述缺陷的成因；以及根據(jù)所述分類(lèi)缺陷與預(yù)定缺陷集合的比較結(jié)果來(lái)改變形成所述光管理膜的工藝條件。

通過(guò)以下詳細(xì)說(shuō)明、附圖以及所附的權(quán)利要求，本領(lǐng)域技術(shù)人員將明白并理解上述和其它特征。

附圖說(shuō)明

現(xiàn)在參見(jiàn)附圖，其作為示例性的實(shí)施方案，其中相同元件的附圖標(biāo)記相同。

圖1是用于光管理膜的檢測(cè)系統(tǒng)的實(shí)施方案示意性說(shuō)明。

詳細(xì)說(shuō)明

首先應(yīng)當(dāng)注意，本文中的術(shù)語(yǔ)“第一”、“第二”等并不表示任何順序、數(shù)量或重要性，而是用于將元件之間彼此區(qū)分開(kāi)，本文中的術(shù)語(yǔ)“某”和“某個(gè)”不表示數(shù)量限制，而是指存在至少一個(gè)所涉及物項(xiàng)。此外，本文中公開(kāi)的所有范圍是包含性的并且可組合的(例如，“至多大約25重量百分比(wt.％)，理想的大約5wt.％到大約20wt.％，更理想的大約10wt.％到大約15wt.％”包括端點(diǎn)及該范圍內(nèi)的所有中間值，例如“大約5wt.％到大約25wt.％，大約5wt.％到大約15wt.％等)。

本文公開(kāi)了一種用于檢測(cè)光管理膜的系統(tǒng)和方法，以及制造所述光管理膜的方法。應(yīng)當(dāng)明白，提到與背光顯示器相關(guān)的光管理膜時(shí)僅僅是為了便于討論，可以想到的其它應(yīng)用也在本發(fā)明的公開(kāi)范圍之內(nèi)。而且，盡管所討論的光管理膜涉及的是包括光改向結(jié)構(gòu)的光管理膜，但應(yīng)當(dāng)明白該系統(tǒng)和方法也可適用于其它的光管理膜(例如，包括棱鏡第一表面和織構(gòu)化的第二表面的多功能增亮膜等等)。