[發明專利]確定缺陷的方法及記錄/再現設備和信息存儲介質

有效

• 申請號: 200580039780.X
• 申請日: 2005-11-17
• 公開（公告）號: CN101061537A
• 公開（公告）日: 2007-10-24
• 發明（設計）人: 黃盛凞;高禎完;成孝振
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11B7/007
• 分類號: G11B7/007
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司
• 代理人: 韓明星;李云霞

技術領域

本發明涉及一種信息存儲介質，更具體地講，涉及一種確定在信息存儲介質上是否存在缺陷的方法，使用該方法的記錄/再現設備以及信息存儲介質。

背景技術

由于與使用介質相應的指紋和灰塵造成可重寫信息存儲介質上缺陷的數量增加。管理在介質使用期間出現的缺陷塊并將其在缺陷信息區中注冊，并將缺陷塊通知給主機或驅動器系統。結果，主機或驅動器系統不將數據分配到這些缺陷塊，僅將數據記錄在非缺陷塊。然而，當缺陷塊的數量增加時，用戶通常重新初始化介質。

在特定情況下，當用戶從介質的表面除去指紋或灰塵時，通過寫后校驗(verify-after-write)處理在缺陷信息區中注冊的缺陷塊可被確定為非缺陷塊。如果必須重新初始化可重寫信息存儲介質，則驅動器系統通過寫后校驗處理確定介質上的可記錄區中的全部塊或在缺陷信息區中注冊的缺陷塊是否為缺陷塊。

然而，如果通過寫后校驗處理確定介質上的所有塊或在缺陷信息區中注冊的缺陷塊是缺陷塊，則重新初始化時間太長，這對用戶造成了不便。

發明公開

技術問題

因此，需要提供這樣的技術：可有效管理在信息存儲介質上出現的缺陷和潛在缺陷，并且可不需要寫后校驗處理而快速執行重新初始化。

技術解決方案

本發明的各個方面和示例性實施例有利地提供一種信息存儲介質、一種設置有信息存儲介質的快速重新初始化的記錄/再現設備以及一種使用該設備的記錄/再現方法。

有益的效果

根據本發明實施例，可使用僅管理缺陷信息而不需寫后校驗處理的方法快速執行重新初始化。此外，根據本發明實施例的檢查方法，可有效地重新安排通過執行未經檢查盤的快速重新初始化產生的缺陷信息，從而提高了驅動器系統的性能。

附圖說明

圖1是根據本發明實施例的示例性記錄/再現設備的示意性框圖；

圖2是根據本發明實施例的作為單層盤的示例性信息存儲介質的結構圖；

圖3是根據本發明實施例的作為雙層盤的示例性信息存儲介質的結構圖；

圖4是根據本發明實施例的缺陷列表的結構圖；

圖5是圖4示出的DFL條目的結構圖；

圖6是圖5示出的DFL條目的狀態信息的示意圖；

圖7A和圖7B是根據本發明實施例的處理關于由于重新初始化盤而重新分配的備用區中的塊的DFL條目的方法的示意圖；

圖8A是圖7A示出的狀態中根據本發明實施例的在分配新的備用區之前的缺陷列表的狀態信息的示圖，圖8B是圖7B示出的狀態中在分配新的備用區之后的缺陷列表的狀態信息的示圖；

圖9A和圖9B是根據本發明實施例的處理關于由于重新初始化盤而重新分配的備用區中的塊的DFL條目的方法的示意圖；

圖10A是圖9A示出的狀態中根據本發明實施例的在分配新的備用區之前的缺陷列表的狀態信息的示圖，圖10B是圖9B示出的狀態中在分配新的備用區之后的缺陷列表的狀態信息的示圖；

圖11A是根據本發明實施例的第二狀態信息被設置為“1”的塊的狀態的示意圖；

圖11B是在圖11A示出的狀態中進一步生成兩個缺陷塊和替換塊的狀態的示意圖；

圖12A是圖11B示出的狀態中指示塊的狀態信息的條目的示例；

圖12B是根據本發明實施例的使用寫后校驗處理來安排條目的狀態的示意圖；以及

圖13是示出根據本發明實施例的寫后校驗操作的過程的流程圖。

最佳實施方式

本發明還提供一種有效管理關于由于未經寫后校驗處理的快速重新初始化操作而在信息存儲介質上出現的潛在缺陷的信息的方法，以及一種使用該方法的記錄/再現設備。

根據本發明的一方面，提供一種確定在具有數據區的信息存儲介質上是否存在缺陷的方法，所述數據區包括用于記錄數據的用戶數據區和用于記錄替換在用戶數據區中出現的缺陷塊的替換塊的備用區。該方法包括：從缺陷列表搜索其狀態信息指示缺陷塊或替換塊已未經檢查而被重新初始化的缺陷條目，所述缺陷列表用于管理介質并包括缺陷塊的狀態信息和替換塊的狀態信息；以及檢查在搜索到的缺陷條目中注冊的缺陷塊或替換塊。

所述方法還包括：根據檢查結果，從缺陷列表刪除其狀態信息指示缺陷塊或替換塊已未經檢查而被重新初始化的缺陷條目。