[發明專利]確定缺陷的方法及記錄/再現設備和信息存儲介質

有效

• 申請號: 200580039780.X
• 申請日: 2005-11-17
• 公開（公告）號: CN101061537A
• 公開（公告）日: 2007-10-24
• 發明（設計）人: 黃盛凞;高禎完;成孝振
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G11B7/007
• 分類號: G11B7/007
• 代理公司: 北京銘碩知識產權代理有限公司
• 代理人: 韓明星;李云霞

1、一種管理在具有包括用于記錄數據的用戶數據區和用于記錄替換在用戶數據區中出現的缺陷塊的替換塊的備用區的數據區的信息存儲介質中的缺陷的方法，所述方法包括：

從信息存儲介質讀取包括至少一個缺陷條目的缺陷列表，缺陷條目包括指示缺陷塊的狀態的第一狀態信息、指示記錄在缺陷塊中的數據是否有效的第二狀態信息、缺陷塊的位置信息以及替換塊的位置信息；

檢查存在于用戶數據區中的并且與缺陷條目對應的塊；

如果通過檢查確定所述塊有缺陷，則改變與所述塊對應的缺陷條目的第一狀態信息或第二狀態信息；如果通過檢查確定所述塊沒有缺陷，則刪除與所述塊對應的缺陷條目。

2、一種記錄/再現設備，包括：

寫入/讀取單元，將數據記錄在信息存儲介質上，并從介質讀取數據；和

控制單元，用于控制寫入/讀取單元從信息存儲介質讀取包括至少一個缺陷條目的缺陷列表，缺陷條目包括指示缺陷塊的狀態的第一狀態信息、指示記錄在缺陷塊中的數據是否有效的第二狀態信息、缺陷塊的位置信息以及替換塊的位置信息；檢查存在于用戶數據區中的并且與缺陷條目對應的塊；如果通過檢查確定所述塊有缺陷，則改變與所述塊對應的缺陷條目的第一狀態信息或第二狀態信息；如果通過檢查確定所述塊沒有缺陷，則刪除與所述塊對應的缺陷條目。