[發明專利]內窺鏡形狀檢測裝置有效
| 申請號: | 200580038920.1 | 申請日: | 2005-11-14 |
| 公開(公告)號: | CN101056575A | 公開(公告)日: | 2007-10-17 |
| 發明(設計)人: | 小野田文幸;丹羽寬;織田朋彥;佐藤稔;三宅憲輔;三好義孝;辻和孝;相沢千惠子 | 申請(專利權)人: | 奧林巴斯醫療株式會社;奧林巴斯株式會社 |
| 主分類號: | A61B1/00 | 分類號: | A61B1/00 |
| 代理公司: | 北京三友知識產權代理有限公司 | 代理人: | 黃綸偉 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 內窺鏡 形狀 檢測 裝置 | ||
1.一種內窺鏡形狀檢測裝置,其具有:檢測部,其把多個磁場產生元件和多個磁場檢測元件中的一方的元件配置在插入被檢體內的內窺鏡的插入部內部,把另一方的元件配置在被檢體外部,把上述另一方的元件的位置用作基準來檢測配置在上述插入部內部的一方的元件的各位置;以及形狀估計部,其控制上述檢測部,并根據上述檢測部的檢測結果估計內窺鏡插入部的形狀;
其特征在于,該內窺鏡形狀檢測裝置具備:
物性值檢測部,其檢測上述多個磁場產生元件的電氣物性值;以及
驅動狀態控制部,其根據上述電氣物性值來控制上述多個磁場產生元件的驅動電壓。
2.根據權利要求1所述的內窺鏡形狀檢測裝置,其特征在于,上述驅動狀態控制部告知上述多個磁場產生元件的時效變化。
3.根據權利要求1或2所述的內窺鏡形狀檢測裝置,其特征在于,上述電氣物性值是上述多個磁場產生元件的直流電阻值。
4.根據權利要求1或2所述的內窺鏡形狀檢測裝置,其特征在于,上述電氣物性值是上述多個磁場產生元件的阻抗值。
5.根據權利要求1所述的內窺鏡形狀檢測裝置,其特征在于,上述電氣物性值是上述多個磁場產生元件的阻抗值和直流電阻值。
6.根據權利要求1所述的內窺鏡形狀檢測裝置,其特征在于,該內窺鏡形狀檢測裝置還具有:圖像生成部,其生成用于把上述內窺鏡插入部的形狀圖形化為插入形狀圖形來進行描繪的圖像信號;以及顯示部,其根據上述圖像信號來顯示上述插入形狀圖形;
上述圖像生成部具有:顯示變更部,其在上述插入形狀圖形的至少一部分被描繪在上述顯示部的顯示區域中的規定區域外的情況下,對上述圖像信號進行規定的顯示變更處理,以使上述插入形狀圖形被描繪在上述顯示區域的上述規定區域內。
7.根據權利要求6所述的內窺鏡形狀檢測裝置,其特征在于,上述顯示變更部的上述規定的顯示變更處理包含:第1顯示變更處理,其在上述插入形狀圖形中的基端側的中心部被描繪在作為上述規定區域的包含上述顯示區域的橫軸的中心部的第1規定區域外的情況下,針對上述圖像信號變更上述插入形狀圖形的描繪位置,以使上述插入形狀圖形的基端側的中心部被描繪在上述顯示區域的橫軸的中心部。
8.根據權利要求6所述的內窺鏡形狀檢測裝置,其特征在于,上述顯示變更部的上述規定的顯示變更處理包含:第2顯示變更處理,其在上述插入形狀圖形的至少一部分被描繪在作為上述規定區域的第2規定區域外的情況下,針對上述圖像信號變更上述插入形狀圖形的放大率來進行描繪,以使上述插入形狀圖形的整體被描繪在上述顯示區域的作為與上述第2規定區域不同的區域的第3規定區域內。
9.根據權利要求7所述的內窺鏡形狀檢測裝置,其特征在于,上述顯示變更部的上述規定的顯示變更處理包含:第2顯示變更處理,其在上述插入形狀圖形的至少一部分被描繪在作為上述規定區域的第2規定區域外的情況下,針對上述圖像信號變更上述插入形狀圖形的放大率來進行描繪,以使上述插入形狀圖形的整體被描繪在上述顯示區域的作為與上述第2規定區域不同的區域的第3規定區域內。
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