[發(fā)明專利]特征故障相關(guān)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 200580029114.8
• 申請日: 2005-10-03
• 公開（公告）號: CN101014955B
• 公開（公告）日: 2010-09-08
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 大衛(wèi)·阿貝爾克龍比;伯恩德·卡爾·費迪南德·克內(nèi)曼
• 申請（專利權(quán)）人: 明導(dǎo)公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 中原信達(dá)知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219
• 代理人: 張煥生;謝麗娜

1.一種用于確定集成電路設(shè)計特征的特征故障系數(shù)的方法，其包括：

定義對應(yīng)于集成電路中物理結(jié)構(gòu)的集成電路設(shè)計特征；

識別包含有所述特征的多個邏輯單元；

對于每個識別的邏輯單元，

確定所述特征在該邏輯單元中發(fā)生的量，以及

確定對應(yīng)于該邏輯單元的集成電路部分的故障率；以及

使所述特征的量與所述故障率相關(guān)聯(lián)，從而為該特征確定通過特征故障系數(shù)來定義的至少一個特征故障函數(shù)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中確定所述特征在每個所述邏輯單元中發(fā)生的量，包括從設(shè)計特征提取工具接收在每個所述邏輯單元中發(fā)生的所述特征的量。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中確定對應(yīng)于所述邏輯單元的所述集成電路部分的故障率，包括從測試信息工具接收故障率。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：

確定所述特征的特征故障系數(shù)超出閾值；以及

減少在現(xiàn)有集成電路設(shè)計中的所述特征的發(fā)生量，以產(chǎn)生修改的集成電路設(shè)計。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其中所述邏輯單元還包括沒有發(fā)生所述特征的邏輯單元。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：

確定所述特征的實現(xiàn)將導(dǎo)致缺陷發(fā)生的可能性超出閾值；以及

對現(xiàn)有集成電路設(shè)計中的所述特征的各發(fā)生添加測試電路，以產(chǎn)生修改的集成電路設(shè)計。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，還包括：

確定所述特征的實現(xiàn)將導(dǎo)致缺陷發(fā)生的可能性超出閾值；以及

通過減少在現(xiàn)有集成電路設(shè)計中的所述特征的發(fā)生，以及通過對未從所述現(xiàn)有集成電路設(shè)計中減少的特征的各發(fā)生添加測試電路，來產(chǎn)生修改的集成電路設(shè)計。

8.一種用于識別對集成電路成品率有影響的特征的方法，其包括：

定義對應(yīng)于集成電路中物理結(jié)構(gòu)的一個或多個集成電路設(shè)計特征；

識別包含有所述特征的多個邏輯單元；

為每個被識別的邏輯單元，

確定發(fā)生在所述邏輯單元中的每個特征的量，以及

確定對應(yīng)于所述邏輯單元的集成電路部分的故障率；以及

使每個特征的量與所述故障率相關(guān)聯(lián)，從而為每個特征確定至少一個特征故障函數(shù)；

采用所述確定的特征故障函數(shù)來預(yù)測集成電路設(shè)計的至少部分的故障率；

所述預(yù)測的故障率與實際故障率做比較，以確定剩余總體成品率影響；以及

識別作為所述剩余總體成品率影響的原因的至少一個特征。

9.一種用于識別對集成電路成品率具有影響的特征的方法，其包括：

定義對應(yīng)于集成電路中物理結(jié)構(gòu)的一個或多個集成電路設(shè)計特征；

識別包含有所述特征的多個邏輯單元；

為每個被識別的邏輯單元，

確定在所述邏輯單元中發(fā)生的每個特征的量，以及

確定對應(yīng)于所述邏輯單元的集成電路部分的故障率；以及

將每個特征的量與所述故障率相關(guān)聯(lián)，從而為每個特征確定至少一個特征故障函數(shù)；

采用所確定的特征故障函數(shù)來預(yù)測對應(yīng)于所述邏輯單元的集成電路設(shè)計的部分的故障率；

確定具有在所預(yù)測故障率和實際故障率之間的最大偏差的邏輯單元；以及

將所述具有最大偏差的邏輯單元識別給故障分析測試過程用于測試。