[發明專利]一種分配物體的系統

無效

• 申請號: 200580026148.1
• 申請日: 2005-08-03
• 公開（公告）號: CN101147121A
• 公開（公告）日: 2008-03-19
• 發明（設計）人: 拉菲·阿米特
• 申請（專利權）人: 卡姆特有限公司
• 主分類號: G06F7/00
• 分類號: G06F7/00
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所
• 代理人: 蔣世迅

技術領域

本發明涉及把物體從多個位置分配到多個目的地的領域。更具體說，本發明涉及一種分配物體并能選擇優先目的地的分配系統。

背景技術

自動光學檢查(AOI)系統使用像處理和專用算法，檢查PCB或晶片表面，以便識別該表面上的缺陷。把有缺陷的表面被掃描的像，傳送到校驗系統，在該系統中，操作員目視核對該像，以校驗自動確定的結果。

某些AOI系統有它們自己的校驗臺，但為提高處理過程的效率，被掃描的物體，例如PCB或晶片，用手拿到多個校驗臺之一。遺憾的是，不是所有校驗臺都是可用的，而它們中的一些在校驗以前的物體時能夠被占據。用手工搜索可用的校驗臺，效率是非常低的，并浪費大量時間。

因此，有一種能自動把被掃描的物體輸送到可用的校驗臺的系統，是有利的。

發明內容

本發明就是一種把物體從自動光學檢查(AOI)系統分配到多個臺之一的分配系統。

按照本發明的教導，是提供一種把來自自動光學檢查(AOI)系統的物體進行分配的分配系統，該分配系統包括：

a)輸送裝置，能把物體從AOI系統輸送到多個臺的每一個；和

b)控制器，該控制器可用于：

i)從AOI系統接收物體；

ii)按順序接收每一個臺的可用性；

iii)控制輸送裝置，把物體從其位置輸送到可用的臺。

按照一個優選實施例中的再一個特征，在提供的按照本發明的分配系統中，該控制器還可用于接收關于物體的信息包，并把信息包連同物體一起傳送到可用的臺。

在另一個優選實施例中，提供的分配系統中，物體是被掃描的有可疑缺陷的物體，該缺陷被AOI系統識別，且其中的臺是校驗臺。

在另一個優選實施例中，提供的分配系統中，輸送裝置是機械手，該機械手能傳送來自AOI系統的物體，并能按照控制器的命令，把物體輸送到臺上。

在另一個優選實施例中，提供的分配系統中，至少一個臺是緩沖臺，在全部臺都不可用的情況下，該輸送裝置把物體輸送到該緩沖臺上，而在某個臺變成可用時，把物體從緩沖臺輸送到該臺上。

在另一個優選實施例中，提供的分配系統中，至少一個臺是卸載臺，在物體已經通過全部要求的操作的情況下，輸送裝置把物體輸送到該卸載臺上。

在另一個優選實施例中，提供的分配系統中，分配是由多個AOI系統完成的。

按照本發明的另一方面，是提供一種把來自至少一個自動光學檢查(AOI)系統的被掃描物體進行分配的分配系統，該物體有可疑的缺陷，該分配系統包括：

a)機械手，能把物體從AOI系統的每一個，輸送到多個校驗臺的每一個；和

b)控制器，該控制器可用于：

i)從AOI系統接收多個被掃描的物體；

ii)從AOI系統接收關于每一個被掃描物體的信息包；

iii)按順序接收每一校驗臺的可用性；

iv)從每一個被掃描物體的位置傳送物體，和把物體的每一個輸送到可用的校驗臺；

v)把每一個信息包傳送到該有關物體要輸送到的校驗臺；

vi)從每一個已校驗物體的位置傳送物體，并把每一個物體輸送到卸載臺；且如有必要；還

vii)把每一個原來的或已更新的信息包，傳送到任一個其他系統，該系統因另外的操作，需要該信息包。

在又一個優選實施例中，該分配系統應能對物體加標記，使在整個處理過程中能完全跟蹤物體。

按照本發明的又一方面，在提供的分配系統中，該分配系統連同至少一個AOI系統和多個校驗臺、緩沖臺、及卸載臺一起，被集成在一個綜合系統內。

附圖說明

下面僅以舉例方式，參照附圖說明本發明。現在，對專門詳細參照的圖強調指出，具體畫出的圖，僅以舉例方式并只供說明本發明優選實施例的目的，且提供認為是最有用的內容和容易了解本發明原理及概念的說明。就此而言，除對本發明的基本理解必需之外，不試圖更詳盡表明本發明的結構細節，結合圖所作的說明，作用是引導本領域熟練人員，了解本發明的若干種形式如何實際實施。

圖中：

圖1畫出本發明一個實施例的方框圖。

具體實施方式

本發明是一種把物體從自動光學檢查(AOI)系統分配到多個校驗臺、之后再到各個其他臺的分配系統。

在本發明的一個優選實施例中，有包括AOI系統、多個校驗臺、機械手、和控制器的配置。