[發明專利]利用安培力測定金屬薄膜/基板界面疲勞性能的方法無效
| 申請號： | 200510096108.6 | 申請日： | 2005-09-30 |
| 公開（公告）號： | CN1766596A | 公開（公告）日： | 2006-05-03 |
| 發明（設計）人： | 孫軍;劉剛;胡巍;宋忠孝;徐可為 | 申請（專利權）人： | 西安交通大學 |
| 主分類號： | G01N27/00 | 分類號： | G01N27/00;G01N19/00 |
| 代理公司： | 西安通大專利代理有限責任公司 | 代理人： | 陳翠蘭 |
| 地址： | 710049*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 利用 安培力 測定 金屬 薄膜 界面 疲勞 性能 方法 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西安交通大學，未經西安交通大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/200510096108.6/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
