[發(fā)明專利]利用安培力測定金屬薄膜/基板界面疲勞性能的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 200510096108.6 | 申請日： | 2005-09-30 |
| 公開（公告）號： | CN1766596A | 公開（公告）日： | 2006-05-03 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 孫軍;劉剛;胡巍;宋忠孝;徐可為 | 申請（專利權(quán)）人： | 西安交通大學 |
| 主分類號： | G01N27/00 | 分類號： | G01N27/00;G01N19/00 |
| 代理公司： | 西安通大專利代理有限責任公司 | 代理人： | 陳翠蘭 |
| 地址： | 710049*** | 國省代碼： | 陜西;61 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 利用 安培力 測定 金屬 薄膜 界面 疲勞 性能 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
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