[發明專利]單根一維納米材料的測試電極及其制作方法無效
| 申請號： | 200410091457.4 | 申請日： | 2004-11-24 |
| 公開（公告）號： | CN1603807A | 公開（公告）日： | 2005-04-06 |
| 發明（設計）人： | 楊海方;劉立偉;金愛子;顧長志;呂力 | 申請（專利權）人： | 中國科學院物理研究所 |
| 主分類號： | G01N27/00 | 分類號： | G01N27/00 |
| 代理公司： | 北京中創陽光知識產權代理有限責任公司 | 代理人： | 尹振啟 |
| 地址： | 100080北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 單根一維 納米 材料 測試 電極 及其 制作方法 | ||
【說明書】：
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