[其他]有位敏探測(cè)器的信息讀/寫系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 101986000002770 | 申請(qǐng)日: | 1986-04-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN1006099B | 公開(公告)日: | 1989-12-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 霍伯雷克斯·阿瑟·瑪麗·尤金;諾拉·戴特·簡(jiǎn)·威廉 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 菲利浦光燈制造公司 |
| 主分類號(hào): | 分類號(hào): | ||
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理有限公司 | 代理人: | 程天正 |
| 地址: | 荷蘭艾恩*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 有位敏 探測(cè)器 信息 系統(tǒng) | ||
在一種用于在一記錄載體的輻射反射表面上讀取和/或?qū)懭胄畔⒌南到y(tǒng)中,一聚焦誤差探測(cè)系統(tǒng)配備以一位置靈敏輻射探測(cè)器,在工作條件下,其半導(dǎo)體本體至少包含一位于兩附有聯(lián)接電極的輻射靈敏二極管間的高歐姆電阻區(qū),一位于兩個(gè)附有聯(lián)接電極的半導(dǎo)體區(qū)之間的高歐姆電阻區(qū),可以這樣方法改變加在聯(lián)接電極的電壓實(shí)現(xiàn)表現(xiàn)對(duì)中,使通過二極管的光電流相等。由此得到的信號(hào)可提供給如用于光學(xué)讀取和寫入裝置及其它測(cè)置裝置的測(cè)量和控制系統(tǒng)中。
本發(fā)明涉及一種用于在記錄載體的輻射反射表面上讀取和/或?qū)懭胄畔⒌南到y(tǒng),包括用以探測(cè)在一光學(xué)系統(tǒng)中一輻射反射元件和一物鏡系統(tǒng)的聚焦面之間的偏離量的聚焦誤差探測(cè)系統(tǒng),該聚焦誤差探測(cè)系統(tǒng)包括一用以確定輻射束的位置的半導(dǎo)體器件,該輻射束入射到一配備以至少兩個(gè)輻射靈敏二極管的輻射靈敏半導(dǎo)體本體的主表面上,該兩個(gè)輻射靈敏二極管與該半導(dǎo)體本體的相鄰部份形成整流結(jié),并配備以電接線以引出由入射輻射線所產(chǎn)生的電流。
所謂輻射束的位置是指輻射束的平衡點(diǎn)(balance)的位置。通常,該平衡點(diǎn)可理解為這樣的一個(gè)點(diǎn),即在該點(diǎn)的一側(cè),在單位時(shí)間內(nèi)的入射光子數(shù)等于該點(diǎn)另一側(cè)的入射光子數(shù)。對(duì)于對(duì)稱束,平衡點(diǎn)與該束的軸重合。
上述輻射-靈敏半導(dǎo)體器件可用于諸如圖象顯示中的光敏線路以及用來對(duì)光束(或其它輻射束)進(jìn)行跟蹤或定位的裝置中。
本發(fā)明的系統(tǒng)包括一種聚焦誤差探測(cè)系統(tǒng),該系統(tǒng)配有半導(dǎo)體器件,一種用以在記錄載體的輻射-記錄表面上讀出及寫入信息的裝置,該裝置配有這樣的聚焦誤差探測(cè)系統(tǒng)。
申請(qǐng)人在荷蘭專利申請(qǐng)8003906號(hào)(于1982年2月1日公布)中已描述了在本說明書開頭第一段中所提及的這種系統(tǒng)。該申請(qǐng)描述了用于*在一個(gè)系統(tǒng)中供讀取在例如一激光唱盤或錄象盤等結(jié)構(gòu)的記錄載體的輻射反射表面上的信息的定位和跟蹤系統(tǒng),在該系統(tǒng)中一種稱之為象限二極管(quadrant diode)被用以確定輻射束的位置。
其中所述的這種象限二極管的響應(yīng)確實(shí)很快,過渡曲線極陡,然而,在裝配中必需使具有正確聚焦的輻射束精確地入射于二極管四個(gè)象限之間的半導(dǎo)體表面上。從所允許的誤差來看(各象跟間的距離約為5微米),這樣的裝配以及有關(guān)的調(diào)整是非常困難,也是非常耗費(fèi)時(shí)間的。
在含有分束元件和由窄條彼此隔開的多個(gè)探測(cè)器所組成的隨后的輻射-靈敏探測(cè)系統(tǒng)的聚焦誤差探測(cè)系統(tǒng)中也存在這種裝配問題,在這系統(tǒng)中分束元件位于從輻射反射表面反射回來的反射束光路中,分束元件將反射束分成支束,入射于分立的窄條上。在這后一種情況下,可以保證子束的探測(cè)器表面上所形成的束斑中心入射在這些分立的窄條上,并且由于使分立窄條互相形成銳角而達(dá)到正確的聚焦。然后,用機(jī)械移動(dòng)探測(cè)器表面的方法,如申請(qǐng)人在荷蘭專利8202058號(hào)申請(qǐng)書中所詳細(xì)描述的,可以達(dá)到正確的初始校正。但是,這種機(jī)械校正將隨時(shí)間和/或隨溫度而變,因此需要經(jīng)常調(diào)整探測(cè)器平面的位置。
為此,本發(fā)明提出一種如本文第一段所描述的系統(tǒng),這種系統(tǒng)特別采用這種聚焦探測(cè)系統(tǒng),在這種系統(tǒng)中零點(diǎn)校正相當(dāng)簡(jiǎn)單。
根據(jù)本發(fā)明,在本說明書開頭第一段中所描述的這種系統(tǒng)的特征在于:至少在工作條件下在二極管之間有一高歐姆電阻區(qū)作為電流通道,同時(shí)該半導(dǎo)體器件還配備以一調(diào)整線路,通過該線路可使和二極管相關(guān)聯(lián)的各整流結(jié)用這樣相對(duì)差值進(jìn)行偏置,與輻射束入射于二極管間的主表面上的位置無(wú)關(guān)地使這兩個(gè)二極管所產(chǎn)生的電流實(shí)際上是相等的。
本發(fā)明所根據(jù)的事實(shí)是:在這種半導(dǎo)體器件中可以利用通過二極管的差分電流來實(shí)現(xiàn)簡(jiǎn)單的機(jī)電或電子線路調(diào)零。這種調(diào)整取代了在聚焦探測(cè)系統(tǒng)中的機(jī)械調(diào)整(位移和鎖定)。因而,不需要很精密的裝配,當(dāng)然,還應(yīng)保持有相當(dāng)好的高頻性能。例如,上述調(diào)零工作可以由可變電阻或通過電位計(jì)線路來實(shí)現(xiàn),在這種情況下,電子線路中應(yīng)考慮到所產(chǎn)生的光電流的變化。
值得注意的是,調(diào)零平衡點(diǎn)并不一定必須在離二極管的等距離處,可以用改變一個(gè)或兩個(gè)二極管的偏置電壓的方法使其在二極管間的連線上移動(dòng)。含有該器件的調(diào)整系統(tǒng)調(diào)節(jié)入射輻射的位置,以使入射輻射束的平衡點(diǎn)與零點(diǎn)調(diào)整或校準(zhǔn)調(diào)整相一致(除極小的誤差信號(hào)以外)。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于菲利浦光燈制造公司,未經(jīng)菲利浦光燈制造公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/101986000002770/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:電氣接插裝置和電接頭
- 下一篇:絲錐夾頭
- 同類專利
- 專利分類
- 信息記錄介質(zhì)、信息記錄方法、信息記錄設(shè)備、信息再現(xiàn)方法和信息再現(xiàn)設(shè)備
- 信息記錄裝置、信息記錄方法、信息記錄介質(zhì)、信息復(fù)制裝置和信息復(fù)制方法
- 信息記錄裝置、信息再現(xiàn)裝置、信息記錄方法、信息再現(xiàn)方法、信息記錄程序、信息再現(xiàn)程序、以及信息記錄介質(zhì)
- 信息記錄裝置、信息再現(xiàn)裝置、信息記錄方法、信息再現(xiàn)方法、信息記錄程序、信息再現(xiàn)程序、以及信息記錄介質(zhì)
- 信息記錄設(shè)備、信息重放設(shè)備、信息記錄方法、信息重放方法、以及信息記錄介質(zhì)
- 信息存儲(chǔ)介質(zhì)、信息記錄方法、信息重放方法、信息記錄設(shè)備、以及信息重放設(shè)備
- 信息存儲(chǔ)介質(zhì)、信息記錄方法、信息回放方法、信息記錄設(shè)備和信息回放設(shè)備
- 信息記錄介質(zhì)、信息記錄方法、信息記錄裝置、信息再現(xiàn)方法和信息再現(xiàn)裝置
- 信息終端,信息終端的信息呈現(xiàn)方法和信息呈現(xiàn)程序
- 信息創(chuàng)建、信息發(fā)送方法及信息創(chuàng)建、信息發(fā)送裝置





