[實用新型]可調式測試平臺

無效

• 申請號: 02204708.5
• 申請日: 2002-01-22
• 公開（公告）號: CN2530247Y
• 公開（公告）日: 2003-01-08
• 發明（設計）人: 劉益中
• 申請（專利權）人: 劉益中
• 主分類號: G01D21/00
• 分類號: G01D21/00
• 代理公司: 永新專利商標代理有限公司
• 代理人: 李樹明

1、一種可調式測試平臺，其特征在于：包含有：

一底座，內部容置相關的電子配線，該底座上方具有穿槽，使測試用探針的配線由穿槽引出，底座前側設有數個控制鈕，底座的一側則設有數個插座；

一測試架，底部延伸突出的下框，于測試架側設有握柄，該握柄連設一驅動軸，該驅動軸穿設于測試架中，該驅動軸被測試架中的二對應支架所支撐，該驅動軸并連接一肘桿連動機構，該肘桿連動機構的動力輸出端與上框連結，上框兩側通過底部設的通孔套設于測試架中所設的二對應滑柱上，于上框下方該滑柱上還套設有彈性件，于上框上方則設有軟性卡抵塊，該上框抵觸該卡抵塊。

2、根據權利要求1所述的可調式測試平臺，其特征在于：該肘桿連動機構是于該二支架中間的該驅動軸上設有活動的原動件，該原動件前端樞接匚形連桿，該連桿一端與一搖臂相樞接，該搖臂端樞設于支架中，另端與一調整塊樞接，該調整塊作為動力輸出端而與該上框連結。

3、根據權利要求2所述的可調式測試平臺，其特征在于：該上框的下部設一突塊，該調整塊是以二螺件而鎖固于該突塊中，另于測試架相對應于該二螺件設置處開有穿孔。