[實用新型]可調式測試平臺無效
| 申請號: | 02204708.5 | 申請日: | 2002-01-22 |
| 公開(公告)號: | CN2530247Y | 公開(公告)日: | 2003-01-08 |
| 發明(設計)人: | 劉益中 | 申請(專利權)人: | 劉益中 |
| 主分類號: | G01D21/00 | 分類號: | G01D21/00 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 | 代理人: | 李樹明 |
| 地址: | 中國*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 調式 測試 平臺 | ||
【技術領域】
本實用新型是有關于一種可調式測試平臺。
【背景技術】
一般產品于生產制造后通常須經過組裝或質量測試的程序,爾后方能出廠供市場消費者購買使用,通常于組裝及測試時有時會運用到輔助的器具,以利于組裝及測試動作的順利進行,使組裝及測試動作簡單且標準化,以此能增進工作效率。如欲以探針來檢測電路元件時,若無輔助的器具,則使用者勢必手握探針針對電路元件一個一個來作檢測動作,如此長時間的檢測動作作下來使用者必定感到手部疲憊不堪,同時可能導致檢測動作不正確,無法使探針保持精確的垂直下移探測角度,遇到試件多時,探針須針對電路元件一個一個來檢測,其檢測工作的效率亦不佳。
【實用新型內容】
本實用新型的目的,是在提供一種可調式測試平臺,能輔助使用者便捷地作檢測動作,以增進工作效率。該檢測裝置的上框能于使用時向下位移適當的距離,而能方便使用者作檢測試件的動作,令檢測的動作標準化且能增進產品品質管理檢測的效益,另外能調整上框架的下移距離,以改變檢測裝置的向下探測距離,以適用于不同試件的測試狀態。
為了達到上述目的,本實用新型提供一種可調式測試平臺,其特征在于:包含有:
一底座,內部容置相關的電子配線,該底座上方具有穿槽,使測試用探針的配線由穿槽引出,底座前側設有數個控制鈕,底座的一側則設有數個插座;
一測試架,底部延伸突出的下框,于測試架側設有握柄,該握柄連設一驅動軸,該驅動軸穿設于測試架中,該驅動軸被測試架中的二對應支架所支撐,該驅動軸并連接一肘桿連動機構,該肘桿連動機構的動力輸出端與上框連結,上框兩側通過底部設的孔套設于測試架中所設的二對應滑柱上,于上框下方該滑柱上還套設有彈性件,于上框上方則設有軟性卡抵塊,該上框抵觸該卡抵塊。
以上述構件的組合,當使用時能于上框、下框上分別裝設檢測裝置如探針及試件(如電路板),藉由握柄下壓使肘桿連動機構帶動上框下移一適當固定的距離,以方便探針對試件作一檢測,使檢測的動作標準化且能增進產品品質管理檢測的效益。
所述的可調式測試平臺,其特征在于:該肘桿連動機構是于該二支架中間的該驅動軸上設有活動的原動件,該原動件前端樞接匚形連桿,該連桿一端與一搖臂相樞接,該搖臂端樞設于支架中,另端與一調整塊樞接,該調整塊作為動力輸出端而與該上框連結,以握柄的下壓藉由肘桿連動構造的運動使調整塊下移。
所述的可調式測試平臺,其特征在于:該上框的下部可設一突塊,該調整塊是以二螺件而鎖固于該突塊中,另于測試架相對應于該二螺件設置處開有穿孔,以便可供螺絲刀伸入測試架中去調整該調整塊的位置,以調整上框向下位移的距離。
本實用新型的可調式測試平臺,能輔助使用者便捷地作檢測動作,以增進工作效率。該檢測裝置的上框能于使用時向下位移適當的距離,而能方便使用者作檢測試件的動作,令檢測的動作標準化且能增進產品品質管理檢測的效益。
本實用新型的可調式測試平臺,能改變向下探測距離。只要對其肘桿連動機構作一調整,即可以改變上框的下移距離,進而能調整檢測裝置的向下探測距離,以適用于不同試件的測試狀態。
以下通過具體實施例,且結合附圖作詳細的說明,以便能對于本實用新型的各項功能、特點,有更進一步的了解與認識:
【附圖說明】
圖1是本實用新型握柄未下壓時的立體外觀示意圖。
圖2是本實用新型握柄下壓時的立體外觀示意圖。
圖3是本實用新型的立體分解示意圖。
圖4A是本實用新型的組合剖視示意圖。
圖4B是圖4A的局部放大圖。
圖5是本實用新型使用時握柄下壓的實施狀態示意圖。
圖6A是圖5的剖視構造示意圖。
圖6B是圖6A的局部放大圖。
圖7是本實用新型的調整塊能作位移調整的剖視示意圖(圖中顯示握柄尚未下壓)。
圖8是圖7于握柄下壓時的剖視示意圖。
【具體實施方式】
請同時參閱圖1、圖2、圖3、圖4所示,本實用新型的可調式測試平臺,包含有一穩固的底座10、一側具活動式握柄21的測試架20,其中:
底座10,內部可容置相關的電子配線,而底座10上方于適當位置具有穿槽11,使測試用探針的配線可由此引出,底座10前側具有數個設定控制鈕12,底座10的一側則設有數插座13,以便能連結相關的顯示界面如電腦(請同時參閱圖5所示),令使用者能更快速地了解到試件的檢測狀態;
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