[發(fā)明專利]場(chǎng)分布測(cè)量方法及裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 01801136.5 | 申請(qǐng)日: | 2001-04-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN1372644A | 公開(kāi)(公告)日: | 2002-10-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 北吉均 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 株式會(huì)社愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試 |
| 主分類號(hào): | G01R29/08 | 分類號(hào): | G01R29/08;G01R33/10 |
| 代理公司: | 中國(guó)國(guó)際貿(mào)易促進(jìn)委員會(huì)專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 杜日新 |
| 地址: | 日本*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 分布 測(cè)量方法 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及使探頭掃描,測(cè)量電場(chǎng)及磁場(chǎng)分布的界分布測(cè)量方法及裝置,特別是關(guān)于可除去因探頭移動(dòng)位置與測(cè)量定時(shí)間偏差而產(chǎn)生的測(cè)量噪聲的場(chǎng)分布測(cè)量方法及裝置。
背景技術(shù)
在小型天線方向性評(píng)價(jià)裝置及電波監(jiān)視可視化裝置中,需要測(cè)量電場(chǎng)及磁場(chǎng)的二維分布。在現(xiàn)有的這些裝置中,采用了通過(guò)使探頭二維掃描,測(cè)量電場(chǎng)及磁場(chǎng)二維分布的場(chǎng)分布測(cè)量方法。
對(duì)于現(xiàn)有的場(chǎng)分布測(cè)量方法及裝置,參照?qǐng)D6進(jìn)行說(shuō)明。
在劃定測(cè)量電場(chǎng)及磁場(chǎng)范圍的場(chǎng)分布測(cè)量面100上,設(shè)置有為檢測(cè)電場(chǎng)及磁場(chǎng)的探頭102。探頭102連接在探頭掃描控制部104上,在場(chǎng)分布測(cè)量面100內(nèi)可以在x軸方向及y軸方向進(jìn)行掃描。在探頭102上連接測(cè)量部106,根據(jù)從探頭102輸出的信號(hào)測(cè)量電場(chǎng)及磁場(chǎng)。探頭掃描控制部104產(chǎn)生對(duì)應(yīng)于探頭102位置的測(cè)量觸發(fā)信號(hào),并輸入到測(cè)量部106中。通過(guò)測(cè)量部106所測(cè)量的電場(chǎng)及磁場(chǎng)數(shù)據(jù)F,可以與從探頭掃描控制部104所傳送來(lái)的位置信息一起記錄在緩沖存儲(chǔ)器108中。在緩沖存儲(chǔ)器108上連接有運(yùn)算·顯示部110,對(duì)緩沖存儲(chǔ)器108中所存儲(chǔ)的測(cè)量數(shù)據(jù)在二維平面上展開(kāi)顯示。
在圖6中所示的場(chǎng)分布測(cè)量裝置中,場(chǎng)分布的測(cè)量是在使探頭102進(jìn)行掃描的同時(shí),在場(chǎng)分布測(cè)量面100上,按每個(gè)規(guī)定間隔測(cè)量電場(chǎng)及磁場(chǎng),使測(cè)量的電場(chǎng)及磁場(chǎng)與探頭102的位置信息一起進(jìn)行處理。
探頭102為了使其移動(dòng)有效進(jìn)行,使測(cè)量通過(guò)量最大,而在每個(gè)取樣點(diǎn)(測(cè)量點(diǎn))上不停頓,對(duì)場(chǎng)分布測(cè)量面上連續(xù)進(jìn)行掃描。探頭102例如如圖6中所示,沿x軸正方向移動(dòng),接著沿y軸正方向移動(dòng)規(guī)定值,接著沿x軸負(fù)方向移動(dòng),接著沿y軸正方向移動(dòng)規(guī)定值,接著沿x軸正方向移動(dòng),接著通過(guò)反復(fù)進(jìn)行這些一連串的動(dòng)作,對(duì)場(chǎng)分布測(cè)量面上的大體全面進(jìn)行掃描(以下將這樣的掃描方法稱為折線掃描)。
探頭掃描控制部104在探頭102對(duì)場(chǎng)分布測(cè)量面100上掃描的過(guò)程中,根據(jù)探頭102的位置發(fā)出測(cè)量觸發(fā)信號(hào)。例如如圖7所示,沿x軸預(yù)先設(shè)定等間隔排列的多數(shù)x座標(biāo),每當(dāng)探頭102所處位置的x座標(biāo)移動(dòng)到這些設(shè)定點(diǎn)時(shí)就產(chǎn)生測(cè)量觸發(fā)信號(hào)。該測(cè)量觸發(fā)信號(hào)傳送給測(cè)量部106。
在測(cè)量部106上,當(dāng)接收到測(cè)量觸發(fā)信號(hào)時(shí),則判斷為通過(guò)探頭102所檢測(cè)的信號(hào)是其取樣點(diǎn)上的電場(chǎng)及磁場(chǎng)信息,根據(jù)該時(shí)刻從探頭102的輸出信號(hào),進(jìn)行電場(chǎng)及磁場(chǎng)的測(cè)量。
這樣所測(cè)量的電場(chǎng)及磁場(chǎng)數(shù)據(jù)F,與從探頭掃描控制部所輸出的探頭位置信息(座標(biāo)(x、y))一起存儲(chǔ)在緩沖存儲(chǔ)器108中。
然后,通過(guò)運(yùn)算·顯示部110,使存儲(chǔ)在緩沖存儲(chǔ)器108中的數(shù)據(jù)F(x,y)在二維平面上展開(kāi),這樣可以得到電場(chǎng)及磁場(chǎng)的二維分布。
但是,在從測(cè)量觸發(fā)信號(hào)的檢測(cè)到測(cè)量值輸出之間存在延遲時(shí)間。因此,為了提高測(cè)量通過(guò)量而在每個(gè)取樣點(diǎn)上不停頓,連續(xù)進(jìn)行掃描的上述現(xiàn)有的場(chǎng)分布測(cè)量方法中,輸出測(cè)量觸發(fā)信號(hào)時(shí)的探頭102的x座標(biāo),與實(shí)際測(cè)量時(shí)的探頭102的x座標(biāo)是不同的。
另外,如圖7所示,當(dāng)使探頭102折線掃描時(shí),y軸的第奇數(shù)列和y軸的第偶數(shù)列間的座標(biāo)移動(dòng)方向是相互相反的。即,探頭在沿x軸正方向移動(dòng)的y軸第奇數(shù)列上,取樣點(diǎn)也在正方向的位置上移位(圖中的0標(biāo)記)。反之,探頭在沿x軸負(fù)方向移動(dòng)的y軸第偶數(shù)列上,取樣點(diǎn)也在負(fù)方向的位置上移位(圖中的x標(biāo)記)。當(dāng)設(shè)探頭掃描速度為V[m/s]、延遲時(shí)間為td[sec]時(shí),該取樣點(diǎn)的不一致量對(duì)同一觸發(fā)點(diǎn)來(lái)說(shuō),x軸位置移動(dòng)2×V×td[m]。
從而,根據(jù)從探頭掃描控制部104所輸出的位置信息,使場(chǎng)分布在二維平面上展開(kāi),不能得到電場(chǎng)及磁場(chǎng)的正確二維像。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種場(chǎng)分布測(cè)量方法及裝置,使探頭連續(xù)掃描,測(cè)量電場(chǎng)及磁場(chǎng)的空間分布,可以除去由探頭移動(dòng)位置和測(cè)量定時(shí)之間偏差產(chǎn)生的測(cè)量噪聲。
上述目的通過(guò)場(chǎng)分布測(cè)方法達(dá)到,該場(chǎng)分布測(cè)量方法在使探頭連續(xù)掃描的同時(shí)通過(guò)在多數(shù)取樣點(diǎn)上進(jìn)行測(cè)量來(lái)測(cè)量電場(chǎng)或磁場(chǎng)的空間分布,其特征在于:根據(jù)由上述探頭位置和測(cè)量定時(shí)之間的偏差所產(chǎn)生的寄生頻譜,計(jì)算出取樣點(diǎn)的偏差量,并考慮上述偏差量來(lái)測(cè)量電場(chǎng)或磁場(chǎng)的分布。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于株式會(huì)社愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試,未經(jīng)株式會(huì)社愛(ài)德萬(wàn)測(cè)試許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R29-00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各組中的電量的測(cè)量或指示裝置
G01R29-02 .單個(gè)脈沖特性的測(cè)量,如脈沖平度的偏差、上升時(shí)間、持續(xù)時(shí)間
G01R29-04 .形狀因數(shù)的測(cè)量,即瞬時(shí)值的均方根值和算術(shù)平均值的商;峰值因數(shù)的測(cè)量,即最大值和均方根值的商
G01R29-06 .調(diào)制深度的測(cè)量
G01R29-08 .電磁場(chǎng)特性的測(cè)量
G01R29-12 .靜電場(chǎng)的測(cè)量
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