[發(fā)明專利]光拾取裝置和傾斜量檢測方法

無效

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• 申請日: 2001-08-04
• 公開（公告）號: CN1345043A
• 公開（公告）日: 2002-04-17
• 發(fā)明（設計）人: 柳澤琢磨;荒木良嗣;前田孝則;巖崎正之
• 申請（專利權(quán)）人: 日本先鋒公司
• 主分類號: G11B7/09
• 分類號: G11B7/09;G11B7/12
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 張志醒

本發(fā)明涉及一種光拾取裝置，用于使用記錄介質(zhì)來記錄和/或重放信息，并且更特別地，涉及一種光拾取裝置和檢測記錄介質(zhì)傾斜量的方法。

現(xiàn)在正在發(fā)展各種類型的光記錄介質(zhì)，如可寫一次的DVD-R(可記錄的數(shù)字多用途光盤)、可再寫入的DVD-RW(可再寫入DVD)和DVD-RAM(DVD隨機存儲器)。光記錄介質(zhì)具有例如幾十億字節(jié)的大記錄容量。

在光盤記錄/重放裝置中，當光盤在記錄或重放過程中由于旋轉(zhuǎn)而發(fā)生彎曲，角偏差通常發(fā)生在從光拾取器中發(fā)出的光束的光軸與在照射位置的光盤的垂直方向之間。角偏差，即傾斜角，主要發(fā)生在光盤的徑向，從而在光學系統(tǒng)中產(chǎn)生彗形像差。由此，傾斜角的發(fā)生產(chǎn)生信號退化，如與鄰近軌跡之間的交擾或抖動，在光盤的重放質(zhì)量上具有相反的效果。而且，特別在執(zhí)行密度記錄時，如在DVD中，需要減小激光的波長而增加物鏡的數(shù)字光圈NA，來減小激電子束光點的直徑。這促使傾斜角的邊緣減小。由此，即使光盤只有輕微的傾斜，記錄密度的增加也導致難于忽略鄰進凹坑的影響，這樣在重放質(zhì)量上導致退化。

當應用徑向傾斜伺服時，需要傾斜信號來監(jiān)視徑向傾斜量。然而，光拾取器的聚焦位置不同于傾斜傳感器檢測的位置，其中提供傾斜傳感器，與信息-記錄/重放光學系統(tǒng)分開來檢測傾斜量。這導致難于獲得正確的傾斜量，并且生產(chǎn)成本增加和尺寸難于減小。還有各種缺點，包括傾斜傳感器老化產(chǎn)生的檢測精度下降，在嘗試克服這樣的缺點時，已經(jīng)發(fā)展了各種方法，來檢測傾斜量而不用分開提供傾斜傳感器。

日本專利申請公開說明書第H11-110769號揭示了傳統(tǒng)的傾斜伺服設備，不使用分開提供的傾斜傳感器來檢測傾斜量。傾斜伺服使用了軌跡左側(cè)和右側(cè)臨近軌跡之間的交擾量中的差異，由此產(chǎn)生徑向傾斜信號。然而，這需要復雜的電路來檢測交擾量。而且，當使用單束光拾取器時，需要將光盤三個旋轉(zhuǎn)數(shù)據(jù)存儲在緩存中，來檢測交擾量。還需要已經(jīng)記錄在單束光拾取器中的數(shù)據(jù)。由此，應用只限于只重放光盤或可再次寫入光盤的記錄后重放。

日本專利申請公開說明書第2000-149298號揭示了傾斜檢測方法，通過采用DPP(差動推挽)跟蹤信號與DPD(差動相檢測)跟蹤信號之間的差異，來產(chǎn)生徑向傾斜信號。然而，記錄在CD-R或DVD-RW上的凹槽，本質(zhì)上需要三束光系統(tǒng)。而且，由于在記錄時應該獲得DPD跟蹤信號，用于指示地址信息的前置凹坑部分必須提供在光盤上。

更進一步，在日本專利申請公開說明書第2000-137923號揭示的傾斜檢測方法中，通過監(jiān)視相同的前置凹坑陣列中重放信號的改變量，來產(chǎn)生徑向傾斜信號，其中前置凹坑陣列安排到軌跡中心的右側(cè)和左側(cè)，像在DVD-RAM光盤的CAPA(補充分配凹坑地址)中一樣。然而，這只應用在提供相同前置凹坑陣列的光盤中。由此，這種方法不能應用到只重放光盤中。

本發(fā)明是考慮解決上述問題而提出的，并且本發(fā)明的目的是提供高性能的和減小尺寸的光拾取裝置，它廣泛應用于各種光盤和光學系統(tǒng)，并且能夠精確地檢測傾斜量。

為了實現(xiàn)這個目的，根據(jù)本發(fā)明的一方面，提供了一種光拾取裝置，用于使用光束照射記錄介質(zhì)的記錄島，來記錄和/或重放信息，它包括光檢測器，用于接收記錄介質(zhì)反射的衍射光；和傾斜檢測器，用于根據(jù)由光檢測器接收的反射光的第0級衍射光與至少一級第0級反射光以外的衍射光形成的干涉區(qū)內(nèi)的光強度，檢測記錄介質(zhì)的傾斜量。

根據(jù)本發(fā)明的另一方面，提供了檢測記錄介質(zhì)傾斜量的方法，通過使用光束照射記錄介質(zhì)的記錄島，來記錄和/或重放信息，它包括接收記錄介質(zhì)反射的衍射光的步驟；和根據(jù)在接收步驟中接收的反射光的第0級衍射光與至少一級第0級反射光以外的衍射光形成的干涉區(qū)內(nèi)的光強度，產(chǎn)生代表記錄介質(zhì)傾斜量的傾斜信號。

圖1示意地顯示了根據(jù)本發(fā)明的光拾取裝置的結(jié)構(gòu)；

圖2顯示了圖1的光拾取裝置的檢測器結(jié)構(gòu)；

圖3是透視圖，示意地顯示了照射到光盤上的光束的第0級衍射光和第+-1級衍射光；

圖4顯示了當徑向傾斜發(fā)生時，中心檢測器上的電子束光點強度的分布；

圖5顯示了光強度的分布，在圖中4的光強度分布中由虛線顯示，在穿過檢測器中心的部分上，并且平行于徑向，相對于電子束光點直徑標準化的相對直徑；

圖6是方塊圖，顯示了檢測器和傾斜信號檢測部分結(jié)構(gòu)的例子；

圖7是圖示，畫出了本發(fā)明第一實施例中，相對于徑向傾斜角的徑向傾斜信號強度S；

圖8是圖示，顯示了光軸偏差(δ)出現(xiàn)時徑向傾斜信號強度的模擬效果；

圖9是圖示，顯示了對于0、3％和6％的光軸偏差(δ)，徑向推挽信號Pr的模擬效果；