[發(fā)明專利]光拾取裝置和傾斜量檢測方法

無效

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• 申請日: 2001-08-04
• 公開（公告）號: CN1345043A
• 公開（公告）日: 2002-04-17
• 發(fā)明（設計）人: 柳澤琢磨;荒木良嗣;前田孝則;巖崎正之
• 申請（專利權）人: 日本先鋒公司
• 主分類號: G11B7/09
• 分類號: G11B7/09;G11B7/12
• 代理公司: 中國專利代理(香港)有限公司
• 代理人: 張志醒

1.一種光拾取裝置，用于以光束照射記錄介質(zhì)的記錄島，來記錄和/或重放信息，包括：

一光檢測器，用于接收所述記錄介質(zhì)反射的衍射光；和

一傾斜檢測器，根據(jù)由所述光檢測器接收的反射光的第0級衍射光與至少一級第0級衍射光以外的衍射光形成的干涉區(qū)內(nèi)的光強度，檢測所述記錄介質(zhì)的傾斜量。

2.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述傾斜檢測器根據(jù)干涉區(qū)外周邊區(qū)域與內(nèi)周邊區(qū)域之間的光強度差異，檢測所述記錄介質(zhì)的傾斜量。

3.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述傾斜檢測器根據(jù)至少一個干涉區(qū)內(nèi)的光強度，檢測所述記錄介質(zhì)的所述傾斜量。

4.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述光檢測器具有三個光檢測元件，安排在所述記錄介質(zhì)的切線方向，代表徑向傾斜量的徑向傾斜信號表達為

S＝L1-L2+L3提供光檢測元件的接收信號相對于切線方向被順序設定為L1、L2和L3。

5.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述至少一個衍射光包括第+1級衍射光和第-1級衍射光之一。

6.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述記錄介質(zhì)是旋轉(zhuǎn)的記錄介質(zhì)，并且所述傾斜檢測器根據(jù)所述記錄介質(zhì)徑向上衍射光干涉區(qū)內(nèi)的光強度，檢測徑向傾斜的量。

7.根據(jù)權利要求6的光拾取裝置，其中所述光檢測器包括用于接收反射光的裝置，來產(chǎn)生徑向推挽信號作為徑向上的推挽信號，并且所述傾斜檢測器包括糾正裝置，用于從代表徑向傾斜量的傾斜信號強度中，減去徑向推挽信號的值乘以預定的系數(shù)，來計算糾正的徑向傾斜量。

8.根據(jù)權利要求6的光拾取裝置，其中所述光檢測器包括用于接收反射光的裝置，相對于所述記錄介質(zhì)的徑向，產(chǎn)生至少兩個切線推挽信號，作為所述記錄介質(zhì)切線方向上的推挽信號，并且所述傾斜檢測器包括用于糾正代表徑向傾斜量的傾斜信號的糾正裝置，使所述至少兩個切線推挽信號的振幅做得實質(zhì)相等。

9.根據(jù)權利要求8的光拾取裝置，其中所述糾正裝置包括放大裝置，用于放大每個所述切線推挽信號；和調(diào)整裝置，來調(diào)整所述放大裝置的增益，使所述切線推挽信號的振幅做得實質(zhì)相等。

10.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述記錄介質(zhì)包括由島和凹槽部分形成的記錄區(qū)。

11.根據(jù)權利要求1的光拾取裝置，其中所述光檢測器是六元件檢測器，具有六個光檢測元件，安排在這樣得到的區(qū)域中，即在所述記錄介質(zhì)的徑向上有兩個分割區(qū)，并且進一步在所述記錄介質(zhì)的切線方向上有三個分割區(qū)。

12.根據(jù)權利要求11的光拾取裝置，其中所述光檢測器是六元件檢測器，具有六個光檢測元件，安排在這樣得到的區(qū)域中，即在所述記錄介質(zhì)的徑向上有兩個分割區(qū)，并且進一步在所述記錄介質(zhì)的切線方向上有三個分割區(qū)，代表徑向傾斜量的徑向傾斜信號S表達為

S＝(L1-L2+L3)-(R1-R2+R3)提供所述記錄介質(zhì)的徑向上相對的每對所述光檢測元件的接收信號，相對于切線方向被順序設定為(L1，R1)、(L2，R2)和(L3，R3)。

13.根據(jù)權利要求7的光拾取裝置，其中所述光檢測器是六元件檢測器，具有六個光檢測元件，安排在這樣得到的區(qū)域中，即在所述記錄介質(zhì)的徑向上有兩個分割區(qū)，并且進一步在所述記錄介質(zhì)的切線方向上有三個分割區(qū)，并且其中代表徑向傾斜量的徑向傾斜信號S，徑向推挽信號Pr和代表糾正的徑向傾斜量的徑向傾斜信號S｀表達為

S｀＝S-α×Pr

S＝(L1-L2+L3)-(R1-R2+R3)

Pr＝(L1+L2+L3)-(R1+R2+R3)提供徑向上相對的每組所述光檢測元件的接收光信號，相對于切線方向被順序設定為(L1，L2，L3)和(R1，R2，R3)，并且預定系數(shù)被設定為α。