[發明專利]測試機臺的測試程序自動產生的軟件及方法無效
| 申請號: | 01119752.8 | 申請日: | 2001-05-23 |
| 公開(公告)號: | CN1387120A | 公開(公告)日: | 2002-12-25 |
| 發明(設計)人: | 鄭貽仁;楊登凱 | 申請(專利權)人: | 華邦電子股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F9/44 | 分類號: | G06F9/44 |
| 代理公司: | 上海專利商標事務所 | 代理人: | 任永武 |
| 地址: | 臺灣省新竹市新*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 測試 機臺 程序 自動 產生 軟件 方法 | ||
本發明為一種測試機臺的測試程序自動產生的軟件及方法。
目前芯片開發的模式已偏向于芯片上系統(SOC)(System?on?chip)發展,方使芯片的功能更為強大(Powerful),隨之帶來測試上的復雜度提高,開發測試程序的時間加長,不同機臺程序的轉換,程序的維護修改等問題,使其在后段所花費的人力及成本大大提高,影響到整個產品的市場先機(Time?to?market)。
當前大多的芯片設計(chip?design)都走向芯片上系統(SOC)(System?onchip),并自行研發建立智能特性(IP)(Intellectual?Property)或采用它人的智能特性(IP),來作為芯片(Chip)的整合及加速開發的時間(Cycle?Time),及正確找出客戶需求的布置,在其IP交互完全兼容下,其芯片設計(Chip?Design)的產出(Throughput)大大地增加,故可將此一方法導入測試程序的開發,針對不同測試機(Tester)的建立不同的IP。從同一個模擬樣本(Simulation?pattern)產生不同機臺的格式(Format),針對不同的測試項目,而產生不同的Tester測試程序的原始碼(Source?Code),這樣只要先準備好模擬形式(Simulation?Pattern),引腳定義(Pin-define),測試項項目選擇,規格條件,機臺種類等等輸入,通過一個軟件的IP程序,就能產生測試機(Tester)的原始碼(Source?code)及樣本檔案(patternfile),使其控制程序的開發時間更快,同時實現轉程序的功能。
本發明的目的是提供一種測試機臺的測試程序自動產生的軟件及其方法,使測試機臺的測試程序高效率地產出,同時不同測試機臺的測試程序也能相互轉換,使測試程序的再利用率大為提高,從而節省開發測試程序的時間。
為達本發明的上述目的,本發明的測試機臺的測試程序自動產生的軟件,其特點是包括:
一測試機程序庫,含數個測試機臺的測試程序模塊,所述測試程序模塊是根據所述測試機臺的一測試策略而產生;以及
一操作平臺,相應一測試機臺的一測試需求,并根據所述測試機程序庫的測試策略,自動轉換產生所述測試機臺的一測試程序。
如所述的測試機臺的測試程序自動產生的軟件,其中所述測試機臺包括一數字測試機臺。
如所述的測試機臺的測試程序自動產生的軟件,其中所述測試機臺包括一模擬測試機臺。
如所述的測試機臺的測試程序自動產生的軟件,其中所述測試機臺包括一Trillium測試機臺、一Schlumberger?ITS?serier測試機臺、一HP?9491測試機臺、一Advantester?T7315測試機臺、一VTT?V7100測試機臺。
如所述的測試機臺的測試程序自動產生的軟件,其中所述測試策略是包括一邏輯產品的測試項目及一模擬產品的測試項目。
如所述的測試機臺的測試程序自動產生的軟件,其中所述邏輯產品的測試項目是包括一連續性(Continutity)測試、一驅動/吸收電流(Drive/Sink?Current)測試、一電力消耗(Power?Dissiapation)測試、一IDDQ測試、一輸入漏電流測試、一功能樣本(Function?Pattern)測試、一交流特性測試。
如所述的測試機臺的測試程序自動產生的軟件,其中所述模擬產品測試是包括一ADC/DAC’s?SNR,THD,Gain_Var測試、一Jitter/Skew測試、一串音測試、一眼圖測試、一頻率響應測試。
為達本發明的上述目的,本發明的測試機臺的測試程序自動產生的方法,其特點是包括下列步驟:
建立數個測試機臺的測試程序模塊,所述測試程序模塊是含所述數個測試機臺的測試策略;以及
根據一測試需求及所述測試策略,自動轉換產生一測試機臺的測試程序原始碼。
采用本發明的上述方案,測試程序的產生是借助整合的測試機程序庫,利用各測試機的測試規格加以轉換,這樣測試程序更容易開發,從而使開發測試程序的時間減短,以加速產品的市場先機(Time?to?market)。
為更清楚理解本發明的目的、特點和優點,下面將結合附圖對本發明的較佳實施例進行詳細說明。
圖1是本發明一較佳實施例的建立各種機臺的數據庫的示意圖;
圖2是本發明一較佳實施例的機臺安裝組態及電性限制示意圖;
圖3是本發明一較佳實施例的正常的測試策略示意圖;
圖4是本發明一較佳實施例的整合項目示意圖。
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