[發明專利]測試機臺的測試程序自動產生的軟件及方法

無效

• 申請號: 01119752.8
• 申請日: 2001-05-23
• 公開（公告）號: CN1387120A
• 公開（公告）日: 2002-12-25
• 發明（設計）人: 鄭貽仁;楊登凱
• 申請（專利權）人: 華邦電子股份有限公司
• 主分類號: G06F9/44
• 分類號: G06F9/44
• 代理公司: 上海專利商標事務所
• 代理人: 任永武

1.一種測試機臺的測試程序自動產生的軟件，其特征在于，它包括：

一測試機程序庫，含數個測試機臺的測試程序模塊，所述測試程序模塊是根據所述測試機臺的一測試策略而產生；以及

一操作平臺，相應一測試機臺的一測試需求，并根據所述測試機程序庫的測試策略，自動轉換產生所述測試機臺的一測試程序。

2.如權利要求1所述的測試機臺的測試程序自動產生的軟件，其特征在于，所述測試機臺包括一數字測試機臺。

3.如權利要求1所述的測試機臺的測試程序自動產生的軟件，其特征在于，所述測試機臺包括一模擬測試機臺。

4.如權利要求1所述的測試機臺的測試程序自動產生的軟件，其特征在于，所述測試機臺包括一Trillium測試機臺、一Schlumberger?ITS?serier測試機臺、一HP?9491測試機臺、一Advantester?T7315測試機臺、一VTT?V7100測試機臺。

5.如權利要求1所述的測試程序自動產生的軟件，其特征在于，所述測試策略是包括一邏輯產品的測試項目及一模擬產品的測試項目。

6.如權利要求1所述的測試機臺的測試程序自動產生的軟件，其特征在于，所述邏輯產品的測試項目是包括一連續性(Continutity)測試、一驅動/吸收電流(Drive/Sink?Current)測試、一電力消耗(Power?Dissiapation)測試、一IDDQ測試、一輸入漏電流測試、一功能樣本(Function?Pattern)測試、一交流特性測試。

7.如權利要求5所述的測試機臺的測試程序自動產生的軟件，其特征在于，所述模擬產品測試是包括一ADC/DAC’s?SNR，THD，Gain_Var測試、一Jitter/Skew測試、一串音測試、一眼圖測試、一頻率響應測試。

8.一種測試機臺的測試程序自動產生的方法，其特征在于，包括下列步驟：

建立數個測試機臺的測試程序模塊，所述測試程序模塊是含所述數個測試機臺的測試策略；以及

根據一測試需求及所述測試策略，自動轉換產生一測試機臺的測試程序原始碼。

9.如權利要求8所述的測試機臺的測試程序自動產生的方法，其特征在于，所述測試機臺包括一數字測試機臺。

10.如權利要求8所述的測試機臺的測試程序自動產生的方法，其特征在于，所述測試機臺包括一模擬測試機臺。

11.如權利要求8所述的測試機臺的測試程序自動產生的方法，其特征在于，所述測試機臺包括一Trillium測試機臺、一Schlumberger?ITS?serier測試機臺、一HP?9491測試機臺、一Advantester?T7315測試機臺、一VTT?V7100測試機臺。

12.如權利要求8所述的測試機臺的測試程序自動產生的方法，其特征在于，所述測試策略是包括一邏輯產品的測試項目及一模擬產品的測試項目。

13.如權利要求8所述的測試機臺的測試程序自動產生的方法，其特征在于，所述邏輯產品的測試項目是包括一連續性(Continutity)測試、一驅動/吸收電流(Drive/Sink?Current)測試、一電力消耗(Power?Dissiapation)測試、一IDDQ測試、一輸入漏電流測試、一功能樣本(Function?Pattern)測試、一交流特性測試。

14.如權利要求8所述的測試機臺的測試程序自動產生的方法，其特征在于，所述模擬產品測試是包括一ADC/DAC’s?SNR，THD，Gain?Var測試、一Jitter/Skew測試、一串音測試、一眼圖測試、一頻率響應測試。