[發(fā)明專利]電子元件能量沖擊測試系統(tǒng)及方法

無效

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• 申請日: 2001-05-30
• 公開（公告）號: CN1388381A
• 公開（公告）日: 2003-01-01
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 陳志溢;許家禎;黃鐙漢
• 申請（專利權(quán)）人: 大岡科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00
• 代理公司: 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司
• 代理人: 穆魁良

本發(fā)明涉及電子元件的測試，尤其是一種電子元件能量沖擊測試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)具有破壞性及非破壞性電子元件測試模式的測試系統(tǒng)，適用于電子元件的結(jié)構(gòu)品質(zhì)檢測及產(chǎn)品全面耐沖能力測試分析。

現(xiàn)有技術(shù)的電子元件測試系統(tǒng)，如于中國臺灣88年6月11日公告的中國臺灣專利公報公告第361627號“電阻負荷測試機構(gòu)”新型專利案，該機構(gòu)包括一底座，呈長條型式；兩電極板為固定在底座上，其為水平延伸到至少為底座的長度，并呈直立片狀型式接通外界電源，兩電極板的頂面為可供電阻帶滑過；一上蓋可供組合于底座上方，內(nèi)底面形成皮帶輪及適當(dāng)長度的滾壓皮帶，且此滾壓皮帶為對應(yīng)于電阻帶的各電阻的兩側(cè)導(dǎo)腳處；借由電阻帶穿過上蓋與底座所界定的區(qū)域輸送之際，通過上蓋的滾壓皮帶使電阻帶的各電阻導(dǎo)腳確實地與兩電極板接觸，以進行連續(xù)通電測試。然而，該第361627號的測試機構(gòu)僅具有單一的測試模式，其無法分別利用同一機構(gòu)進行不同測試模式如破壞性及非破壞性電子元件測試模式。因此，在單一測試機構(gòu)內(nèi)需要適當(dāng)整合不同測試模式以解決前述技術(shù)問題。此外，傳統(tǒng)上產(chǎn)品結(jié)構(gòu)品質(zhì)檢測僅利用樣檢方式取一定數(shù)量的產(chǎn)品進行檢測，而無法進行全面的產(chǎn)品結(jié)構(gòu)品質(zhì)檢測。

為克服現(xiàn)有技術(shù)的上述缺點，本發(fā)明提供了一種電子元件能量沖擊測試系統(tǒng)及方法，可進行電子元件的結(jié)構(gòu)品質(zhì)檢測及產(chǎn)品全面耐沖能力測試分析。

該電子元件能量沖擊測試系統(tǒng)包含：一對待測元件進行模擬連續(xù)瞬間能量沖擊測試直至其結(jié)構(gòu)崩潰為止、以便測試該待測元件結(jié)構(gòu)品質(zhì)的破壞性電子元件測試模式；一對待測元件進行模擬一次瞬間能量沖擊測試、以便測試該待測元件能量耐沖能力的非破壞性電子元件測試模式；一用以控制該破壞性電子元件測試模式及非破壞性電子元件測試模式的程序控制結(jié)構(gòu)。

該電子元件能量沖擊測試方法包含判別是否執(zhí)行破壞性單點能量沖擊的測試步驟；

若選擇執(zhí)行破壞性能量沖擊測試時，則執(zhí)行測試參數(shù)設(shè)定步驟，載入測試程序步驟，測試電容器開始充電步驟，對待測元件進行瞬間能量沖擊，耐沖擊次數(shù)計數(shù)步驟；在進行計數(shù)步驟后，執(zhí)行判別是否接收崩潰信號；若未收到崩潰信號時，一直重復(fù)執(zhí)行載入測試程序步驟；若收到收崩潰信號時，執(zhí)行結(jié)束能量沖擊步驟，回到能量沖擊測試系統(tǒng)；

若不選擇執(zhí)行破壞性多點能量沖擊測試時，則執(zhí)行測試參數(shù)設(shè)定步驟、載入非破壞性多點能量沖擊測試程序步驟，判別是否執(zhí)行負溫度系數(shù)熱敏電阻進料，若未進料時，回到能量沖擊測試系統(tǒng)，若進料時，待測試元件進入測試區(qū)執(zhí)行定位鎖定；判別相位偵測是否在90度，若相位不在90度時，一直重復(fù)執(zhí)行判別直至相位在90度為止，若相位在90度時，執(zhí)行啟動第一組開關(guān)陣列進行循序多點能量沖擊測試；執(zhí)行啟動第二組開關(guān)陣列進行測試電容器放電，使測試電容器的電壓為零，并一直重復(fù)執(zhí)行判別是否執(zhí)行負溫度系數(shù)熱敏電阻進料，直至未進料時，回到能量沖擊測試系統(tǒng)。

本發(fā)明的有益效果是：因其利用共用程序控制結(jié)構(gòu)將不同測試模式整合于一測試系統(tǒng)，對待測元件進行能量沖擊測試及連續(xù)模擬瞬間沖擊測試，所以具有自動化循序控制方式及整合多種測試模式的功效；另外，其縮短了能量沖擊測試時間及可全面連續(xù)品檢測試，使本發(fā)明具有提升測試精確度及產(chǎn)品可賴度的功效。

以下為本發(fā)明的附圖：

圖1：本發(fā)明較佳實施例電子元件能量沖擊測試方法的流程圖；

圖2：本發(fā)明較佳實施例電子元件能量沖擊測試系統(tǒng)的破壞性單點測試結(jié)構(gòu)的示意圖；

圖3：本發(fā)明較佳實施例電子元件能量沖擊測試系統(tǒng)的破壞性單點測試結(jié)構(gòu)的控制電路圖；

圖4：本發(fā)明較佳實施例電子元件能量沖擊測試系統(tǒng)的破壞性單點測試結(jié)構(gòu)的崩潰感測電路圖；

圖5：本發(fā)明較佳實施例電子元件能量沖擊測試系統(tǒng)的非破壞性多點測試結(jié)構(gòu)及檢測電路圖。

下面結(jié)合附圖對本發(fā)明做進一步詳述：

本發(fā)明的電子元件能量沖擊測試系統(tǒng)，其非破壞性測試模式及破壞性測試模式以程序語言如Visual?Basic、C語言、組合語言等撰寫，利用主控電腦及可程序控制卡執(zhí)行完成，提供精確連續(xù)模擬瞬間沖擊電流及能量沖擊功能，使用于待測試元件的耐沖擊能力測試及結(jié)構(gòu)品質(zhì)檢測分析。