[發明專利]描述圖像的模式重復性的方法

無效

• 申請號: 01112143.2
• 申請日: 2001-03-29
• 公開（公告）號: CN1326166A
• 公開（公告）日: 2001-12-12
• 發明（設計）人: 申鉉枓;崔良林
• 申請（專利權）人: 三星電子株式會社
• 主分類號: G06K9/36
• 分類號: G06K9/36;G06T5/00;H04N1/40
• 代理公司: 柳沈知識產權律師事務所
• 代理人: 呂曉章

本發明涉及描述圖像的周期性模式重復性的方法，尤其涉及通過有效地去除圖像的噪聲來精確地描述周期性模式的方法。

為了將圖像數據中的一個圖像與另一個圖像區別開，注意或覺察相干的模式是很重要的。這在圖像識別和圖像處理時如圖像的存儲、分類和恢復中被認為是非常重要的。同時，在使用紋理特性模式匹配的特定領域中它是獲得更好的模式覺察性能的決定因素。

在本發明申請人于1999年3月19日申請并且在此作為參考的美國專利09/272,321中，提供了一種用于垂直或水平地投影原始像素值的方法。用于垂直或水平地投影原始像素值的方法作為一種在圖像數據內提取特有模式的有效的方法來描述。根據本方法，如果一個重復的模式包括在一個圖像中，則該模式被明確地在投影的圖像內表示。同樣，在上面提到專利中，公開了應用于生成的投影圖像的自相關方法，可以識別或擴大周期性特性。然而，由于其它重復性模式與噪聲的組合，一般來說，在投影的圖像內找到的模式重復性沒有精確的周期。特別地，因為圖像內的噪聲往往導致模式模糊，所以需要去除噪聲。

使用自動化的周期性模式計數裝置來降低噪聲的常規的方法可以部分地解決這個問題。然而，如果去除了噪聲，存在圖像的模式重復性也改變的問題。

為了解決上面的問題，本發明的目的是提供一種能夠有效地描述可能在圖像內存在的模式重復性的方法。

為了解決上面的問題，本發明的另一個目的是根據模式重復性描述方法，提供一種分組圖像數據庫內具有類似的紋理特性的圖像的方法，其中該數據庫中存儲多個圖像。

因此，為了達到上面的目的，根據本發明的一個方面提供的圖像的模式重復性描述方法包括：(a)在具有預定方向的預定軸上投影圖像；(b)將投影的圖像向下分解一個等級(level)；(c)增加門限值直到模式量化值保持為止，并且去除分解數據的噪聲；(d)使用去除噪聲的數據的模式量化值和用于去除噪聲的門限值來描述圖像的模式重復性。

同時，該分解最好基于離散的子波變換。

同樣，步驟(c)最好包括：(c-1)計算投影圖像的模式量化值；(c-2)將投影圖像向下分解一個等級；(c-3)使用預定的門限值去除分解生成的數據的噪聲；(c-4)計算去除噪聲的數據的模式量化值；(c-5)判別是否先前的模式量化值等于當前的模式量化值；(c-6)如果先前的模式量化值等于當前的模式量化值，增加門限值并且返回到步驟(c-3)；以及(c-7)如果先前的模式量化值不等于當前的模式量化值，確定先前的模式量化值為最后的模式量化值。

同時，步驟(d)最好包括，(d’)根據在步驟(c-7)確定的模式量化值和門限值描述圖像的模式重復性。

為了達到上面的目的，根據本發明的另一個方面提供一種圖像的模式重復性描述方法，它包括：(a)在具有預定方向的預定軸上投影圖像；(b)分解投影的圖像，直到先前的模式量化值和分解后模式量化值保持相同的等級為止，并且去除噪聲；以及(c)使用至少一個等級數和噪聲被去除的數據的模式量化值以及用于去除噪聲的門限值來描述圖像的模式重復性。

為了達到另一個目的，根據本發明的一個方面，提供一種在存儲了多個圖像的圖像數據庫內分組具有類似紋理特性的圖像的方法，該方法包括：(a)在具有預定方向的預定軸上投影圖像；(b)將投影的數據向下分解一個等級；(c)增加門限值直到模式量化值被保持為止，并且去除分解的數據的噪聲；(d)確定具有去除噪聲的數據的模式量化值的模式重復性向量和用于去除噪聲的門限值為圖像的模式重復性描述符；以及(e)使用圖像的模式重復性描述符分組具有類似紋理特性的圖像。

為了達到上面的目的，根據本發明的另一個方面，提供分組圖像的方法，其中用于在存儲了多個圖像的圖像數據庫內分組具有類似紋理特性的圖像的方法包括：(a)在具有預定方向的預定軸上投影圖像；(b)分解圖像，直到先前的模式量化值和分解后的模式量化值保持相同的等級為止，并且去除噪聲；(c)確定去除噪聲的數據的等級數、模式量化值以及用于去除噪聲的門限值為圖像的模式重復性描述符；以及(e)使用圖像的模式重復性描述符分組具有類似紋理特性的圖像。

參照附圖，通過詳細描述優選實施例，本發明上面的目的和優點將變得更加明顯，其中：

圖1是根據本發明的第一優選實施例，說明描述圖像的模式重復性方法的主要步驟的流程圖；以及

圖2是根據本發明的第二優選實施例，說明描述圖像的模式重復性方法的主要步驟的流程圖。

下面參照附圖，更詳細地描述本發明的優選實施例。