[發(fā)明專利]適用于靜電放電防護(hù)的電壓控制元件及其保護(hù)電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 01109356.0 | 申請日: | 2001-02-28 |
| 公開(公告)號(hào): | CN1373513A | 公開(公告)日: | 2002-10-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 林耿立;柯明道 | 申請(專利權(quán))人: | 世界先進(jìn)積體電路股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L23/60 | 分類號(hào): | H01L23/60 |
| 代理公司: | 北京紀(jì)凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 程偉 |
| 地址: | 中國*** | 國省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 適用于 靜電 放電 防護(hù) 電壓 控制元件 及其 保護(hù) 電路 | ||
本發(fā)明是有關(guān)于一種靜電放電(electrostatic?discharge,ESD)防護(hù)元件以及其相關(guān)的ESD防護(hù)電路與ESD防護(hù)系統(tǒng)。
隨著制程技術(shù)的進(jìn)步,ESD的耐受力已經(jīng)是集成電路(integratedcircuit,IC)的可靠度需要主要考慮的問題之一。尤其是半導(dǎo)體制程技術(shù)進(jìn)入深亞微米時(shí)代(deep?submicron?regime)后,縮小尺寸(scaled-down)的晶體管、較淺的摻雜接面深度、較薄的柵氧化層、輕摻雜的漏極結(jié)構(gòu)(lightly-doped?drain,LDD)、淺溝隔離(shallow?trenchisolation,ST1)制程以及金屬硅化物(salicide)制程等,對于ESD應(yīng)力而言都是比較脆弱的。因此,在IC的輸出入埠便必須設(shè)置ESD防護(hù)電路,用以保護(hù)1C中的元件免于遭受ESD損害。
圖1A為一現(xiàn)有的DSD防護(hù)電路,是使用一NMOS(N-type?Metaloxide?semiconductor?transistor)NE作為主要的ESD防護(hù)元件。NE的柵極與源極相接。圖1B為圖1A中的NMOS晶體管的電壓電流曲線圖。因?yàn)镹E為一個(gè)加強(qiáng)式(enhance-mode)NMOS,于一般正常操作時(shí),NE為關(guān)閉狀態(tài),所以外界的電訊信號(hào)可以通過輸出入(lnput/output)接合墊10而進(jìn)入內(nèi)部電路12。當(dāng)一相對于VSS為正脈沖的ESD事件發(fā)生于N/O接合墊10時(shí),NE的漏極電壓超過觸發(fā)電壓Vtrig,即為NE的漏極(drain)與基底(substrate)之間的接面崩潰電壓,觸發(fā)了寄生于NE中的雙接面晶體管。在ESD應(yīng)力破壞內(nèi)部電路中的元件之前,釋放ESD電流。
然而,經(jīng)由一般的CMOS制程所制造,NMOS的漏極與基極之間的接面崩潰電壓通常高達(dá)10多伏特。如此的高電壓對于先進(jìn)的制程所制作出的柵極絕緣層都是難以忍受的。因此,如何降低觸發(fā)電壓Vtrig便成為此類ESD防護(hù)電路的主要課題。
圖2A以及圖2B為兩個(gè)現(xiàn)有具有較低觸發(fā)電壓的NMOS剖面示意圖。利用離子注入,在源極與漏極的N+摻雜區(qū)下形成一崩潰觸發(fā)層(20或22)。崩潰觸發(fā)層(20或22)的目的在于形成一個(gè)相對于原本N+摻雜層16與P型基底18所形成的PN接面更為容易崩潰的PN接面,也就是降低了NMOS的漏極對基極的崩潰電壓。如此,可以加速寄生于NMOS的BJT的開啟時(shí)間,避免ESD應(yīng)力破壞了內(nèi)部電路中的元件。
現(xiàn)有的ESD防護(hù)電路亦有運(yùn)用SCR來作為主要的ESD防護(hù)元件。SCR在一般的工作狀態(tài)時(shí),呈現(xiàn)關(guān)閉的狀態(tài)。當(dāng)ESD事件發(fā)生時(shí),SCR才會(huì)被觸發(fā)而釋放ESD電流。而如何降低SCR的觸發(fā)電壓Vt,往往也是使用SCR為防護(hù)元件的主要課題。
本發(fā)明的目的在于提出一種適用于靜電放電防護(hù)的電壓控制元件及其保護(hù)電路,該靜電放電防護(hù)的電壓控制元件及其保護(hù)電路可以完全不用考慮現(xiàn)有的ESD防護(hù)元件所要面對的觸發(fā)電壓的問題。
本發(fā)明的另一目的在于提出一種適用于靜電放電防護(hù)的電壓控制元件及其保護(hù)電路,該靜電放電防護(hù)的電壓控制元件以及其相關(guān)電路使整個(gè)集成電路的接合墊,都可獲得良好的ESD防護(hù)。
本發(fā)明的目的可以通過以下措施來達(dá)到:
一種適用于靜電放電防護(hù)的電壓控制元件,適用于一集成電路,耦合于一第一接合墊與一第二接合墊之間,當(dāng)一工作電源供給該集成電路電源時(shí),該防護(hù)元件呈現(xiàn)關(guān)閉狀態(tài),當(dāng)該工作電源不供給該集成電路電源時(shí),該防護(hù)元件呈現(xiàn)保持導(dǎo)通狀態(tài),可以釋放發(fā)生于該第一接合墊與該第二接合墊之間的一靜電放電事件所產(chǎn)生的電流。
一種適用于靜電放電防護(hù)的電壓控制元件的保護(hù)電路,連接于一第一接合墊以及一第二接合墊之間,包含有:
一靜電放電防護(hù)元件,連接于該第一接合墊以及該第二接合墊之間;以及
一偏壓產(chǎn)生器,當(dāng)一工作電源提供該集成電路電源時(shí),用以控制該靜電防護(hù)元件呈現(xiàn)關(guān)閉狀態(tài);
其中,當(dāng)該工作電源沒提供該集成電路時(shí),該靜電防護(hù)元件為開啟狀態(tài),可以釋放發(fā)生于該第一接合墊與該第二接合墊之間的—靜電放電事件所產(chǎn)生的電流。
一種適用于靜電放電防護(hù)的電壓控制元件的保護(hù)系統(tǒng),適用于一集成電路,該集成電路包含有復(fù)數(shù)個(gè)接合墊Pad1…padN,該防護(hù)系統(tǒng)包含有:
一靜電放電匯流線(靜電放電bus?line);
復(fù)數(shù)個(gè)靜電放電防護(hù)元件D1…DN,每一靜電放電防護(hù)元件Dn連接于一相對應(yīng)的Padn與該靜電放電匯流線之間;以及
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于世界先進(jìn)積體電路股份有限公司,未經(jīng)世界先進(jìn)積體電路股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/01109356.0/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 上一篇:灌溉地面管路無管件直接穿插連接法
- 下一篇:一種蛇形機(jī)器人
- 防護(hù)裝置和防護(hù)方法
- 防護(hù)材料與防護(hù)結(jié)構(gòu)與防護(hù)方法
- 一種用于評(píng)估防護(hù)工程綜合防護(hù)效能的數(shù)學(xué)計(jì)算模型
- 平面防護(hù)板、拐角防護(hù)板及防護(hù)裝置
- 平面防護(hù)板、拐角防護(hù)板及防護(hù)裝置
- 防護(hù)裝置及防護(hù)系統(tǒng)
- 防護(hù)蓋(接頭防護(hù)蓋)
- 巖爆防護(hù)臺(tái)車防護(hù)網(wǎng)以及防護(hù)臺(tái)車防護(hù)架
- 巖爆防護(hù)臺(tái)車防護(hù)網(wǎng)以及防護(hù)臺(tái)車防護(hù)架
- 防護(hù)罩、防護(hù)服及防護(hù)系統(tǒng)





