[發(fā)明專利]光柵匹配適配器的測試探針和測試印刷電路板的裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 00811965.1
• 申請日: 2000-08-10
• 公開（公告）號: CN1371478A
• 公開（公告）日: 2002-09-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: M·普羅考普;B·奧特
• 申請（專利權(quán)）人: ATG試驗(yàn)體系兩合公司
• 主分類號: G01R1/067
• 分類號: G01R1/067;G01R1/073
• 代理公司: 上海專利商標(biāo)事務(wù)所
• 代理人: 李玲

本發(fā)明涉及電路板測試器的圖案適配器的測試探針。

這種圖案適配器被用于將測試器的預(yù)定的規(guī)則格柵圖案轉(zhuǎn)換成待測試的電路板的通常不規(guī)則的測試點(diǎn)排列。這種圖案適配器通常包括數(shù)個彼此分隔的導(dǎo)板，其上包括容置測試探針的導(dǎo)孔。測試探針被斜置在適配器內(nèi)，以便可以將規(guī)則格柵圖案的接觸導(dǎo)點(diǎn)電氣連接到電路板測試點(diǎn)，因?yàn)檫@些測試點(diǎn)通常偏離格柵圖案的規(guī)則排列。

由于電路板上的電路板測試點(diǎn)的間距不斷被減小，目前僅為0.3mm(2密耳)或0.25mm(10密耳)，所以，在適配器的面向測試物的這一側(cè)上的測試探針必須以相應(yīng)緊密的節(jié)距安排。

這就是為什么采用極細(xì)的測試探針作這種適配器，例如直徑只有0.1mm或0.2mm。這些測試探針極不穩(wěn)定，以致于適配器中必須設(shè)置許多導(dǎo)板；以確保可靠地引導(dǎo)測試探針。

還知道，這些測試探針的直徑隨區(qū)段而有不同，各段之間呈階梯狀過渡。測試探針上毗鄰接觸尖端的這段其直徑最小，該接觸尖端與待測電路板的測試點(diǎn)相接觸，隨著與接觸尖端的距離增加，測試探針的直徑呈階梯形增大。與細(xì)測試探針比，這種階梯狀測試探針實(shí)質(zhì)上較堅(jiān)硬，其接觸尖端的位置也可安排得彼此相當(dāng)靠近。然而，鄰接接觸尖端的這段也很不穩(wěn)定，以致于需要通過幾個測試板被支承在圖案適配器中。

德國實(shí)用新型DE?91?00?432?U1揭示一種用于電氣圖案適配器的測試探針。這種測試探針的自由端呈錐尖狀，尖端包括一半徑約50μm的球形圓頭。此德國實(shí)用新型揭示該球形尖端的半徑范圍在20至80μm之間。

德國實(shí)用新型DE?298?10?384?U1揭示錐尖型測試探針，但未指示測試探針的粗細(xì)。

DE?37?36?689?A1及DE?36?39?360?A1描述的探針具有錐尖型尖端，在遠(yuǎn)離測試尖端的一端包括一球形頭部。這種探針的最大針桿直徑為1.3至1.4mm，而其頭部直徑約2mm。未指出接觸尖端的直徑。

DE?44?17?811?A1揭示的探針特征在于用于接觸一觸點(diǎn)的極短的錐形尖端。

DE?44?39?758?A1揭示一種測試適配器的測試探針，其特征同樣在于構(gòu)造成短而呈錐形的尖端。此尖端是通過研磨而成的。該引證文件顯示的適配器包括部分傾斜排列的測試探針。

DE?36?20?947?A1顯示一種測試探針，由恒定截面的金屬線構(gòu)成，其直徑小于0.2mm。此外還顯示一種更尖型的測試探針。

US?4,403,822顯示一種尖形測試探針，但未指出測試探針的粗細(xì)。

DE?44?297?58?C2說明由0.15mm至0.5mm粗的細(xì)金屬線制成的測試探針。這些測試探針設(shè)有一短的尖端。

DE?196?54?404?A1提及一種非常復(fù)雜的方法來測試節(jié)距問隔200μm的電路板，其中通過一轉(zhuǎn)換器箔片的手段使包括多個測試探針的適配器接觸節(jié)距非常緊密的觸點(diǎn)。該申請使人清楚，沒有可接觸節(jié)距緊密觸點(diǎn)的直接方法。

DE?43?23?276?A1說明在適配器中使用光滑無輪廓的音樂鋼絲線探針。在這種適配器中設(shè)一種實(shí)心材料體，測試探針通道穿透其間，在測試探針通道中可靠地引導(dǎo)細(xì)測試探針。這些測試探針的直徑最高可達(dá)0.1mm。

德國實(shí)用新型DE?296?16?272?U1揭示一種適配器，其中具有內(nèi)部調(diào)節(jié)裝置。

本發(fā)明的目的是提供一種電路板測試器的圖案適配器的測試探針，此探針針對穩(wěn)定性以及在圖案適配器中兩相鄰測試探針的測試尖端間實(shí)現(xiàn)緊密節(jié)距而最佳配置。

通過具有權(quán)利要求1所述特征的測試探針可達(dá)到此目的。從其他附屬權(quán)利要求可了解本發(fā)明的諸優(yōu)點(diǎn)方面。

根據(jù)本發(fā)明的電路板測試器的圖案適配器的測試探針特征在于，該測試探針包括一個用于接觸電路板測試點(diǎn)的接觸部，該接觸部的外型為向自由接觸尖端呈錐狀漸尖細(xì)。接觸部的長度至少為15mm，在所述接觸尖端處的直徑小于0.2mm，接觸部的與所述接觸尖端相對的一端的直徑比接觸尖端的大至少0.1mm

接觸部朝接觸尖端呈錐狀漸細(xì)代表了適合于接觸節(jié)距極緊密的電路板測試點(diǎn)上的極細(xì)測試探針與增加了穩(wěn)定性的并在圖案適配器中較易引導(dǎo)(即只需較少導(dǎo)板)的較粗測試探針之間的最佳折衷。