[發(fā)明專利]光柵匹配適配器的測(cè)試探針和測(cè)試印刷電路板的裝置

無(wú)效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 00811965.1
• 申請(qǐng)日: 2000-08-10
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN1371478A
• 公開(kāi)（公告）日: 2002-09-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: M·普羅考普;B·奧特
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: ATG試驗(yàn)體系兩合公司
• 主分類號(hào): G01R1/067
• 分類號(hào): G01R1/067;G01R1/073
• 代理公司: 上海專利商標(biāo)事務(wù)所
• 代理人: 李玲

1.一種電路板測(cè)試器的圖案適配器的測(cè)試探針，其中所述測(cè)試探針(1)包括一用于接觸電路板測(cè)試點(diǎn)的接觸部(3)，所述接觸部(3)被配置成圓錐逐漸變細(xì)到自由接觸尖端(4)，所述接觸部(3)的長(zhǎng)度(L)至少為15mm，其在所述接觸尖端(4)處的直徑(d)小于0.2mm，所述接觸部(3)的與所述接觸尖端(4)相對(duì)的末端段(5)的直徑(D)比所述接觸尖端(4)的直徑大至少0.1mm。

2.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針，其特征在于，所述接觸部(3)的長(zhǎng)度(L)至少為20mm，且所述末端段(5)的所述直徑(D)至少為0.3mm。

3.如權(quán)利要求1所述的測(cè)試探針，其特征在于，所述接觸部(3)的長(zhǎng)度(L)至少為30mm，且所述末端段(5)的直徑(D)至少為0.4mm。

4.如權(quán)利要求1至或3之一所述的測(cè)試探針，其特征在于，所述接觸尖端(4)的直徑(d)小于或等于0.1mm。

5.如權(quán)利要求1至4之一所述的測(cè)試探針，其特征在于，所述接觸尖端(4)為圓角。

6.如權(quán)利要求1至5之一所述的測(cè)試探針，其特征在于，鄰接與所述接觸尖端相對(duì)的所述末端段(5)的是一個(gè)直徑不變的基部(2)。

7.如權(quán)利要求5所述的測(cè)試探針，其特征在于，所述基部(2)的長(zhǎng)度至少為30mm。

8.如權(quán)利要求1至7之一所述的測(cè)試探針，其特征在于，所述測(cè)試探針(1)是通過(guò)粗成形和表面拋光制成的。

9.如權(quán)利要求8所述的測(cè)試探針，其特征在于，所述粗成形為研磨，而所述表面拋光為化學(xué)磨光。

10.如權(quán)利要求1至7之一所述的測(cè)試探針，其特征在于，所述測(cè)試探針(1)是通過(guò)激光機(jī)械加工制成的。

11.一種電路板測(cè)試器的圖案適配器，包括彼此間隔排列的導(dǎo)板，其上設(shè)置導(dǎo)孔，用于容置測(cè)試探針，所述探針按照權(quán)利要求1至10任一所述配置，其中，至少有一些所述測(cè)試探針被彼此相對(duì)傾斜地排列在圖案適配器中，以致于通過(guò)其接觸尖端使它們非常靠近地間隔開(kāi)來(lái)。

12.如權(quán)利要求11所述的圖案適配器，其特征在于鄰接所述接觸尖端的所述間隔小于或等于0.3mm，或者小于或等于0.25mm則較佳。