[發(fā)明專利]測試等離子體顯示板的短路和斷路用的探頭

無效

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• 申請日: 2000-05-10
• 公開（公告）號: CN1353858A
• 公開（公告）日: 2002-06-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 樸泰旭
• 申請（專利權(quán)）人: 樸泰旭
• 主分類號: H01J9/42
• 分類號: H01J9/42
• 代理公司: 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司
• 代理人: 陳瑞豐

技術(shù)領(lǐng)域

一般地說，本發(fā)明涉及探頭裝置，用于等離子體顯示板(下稱“PDP”)電極短路及斷路的測試，具體地說，涉及一種探頭裝置，用于測試多個用作PDP掃描線的微小電極的短路和斷路。

背景技術(shù)

如本領(lǐng)域技術(shù)人員所周知者，PDP包括多個電極，用于水平掃描和垂直掃描。相應(yīng)地，每個水平掃描電極或垂直掃描電極的短路或斷路都是造成像點缺陷的原因，因此應(yīng)該測試PDP的水平電極和垂直電極，而且只應(yīng)將無瑕疵的PDP進入到隨后的過程。

如果不進行各種電極的短路和斷路的精確測試，要找出有瑕疵的PDP，就要執(zhí)行后續(xù)的費用較高的過程，從而招致重大的經(jīng)濟損失。

每個電極的寬度僅為80μm，而相鄰電極間的間隔是150μm，因此，普通測試各微小電極的短路和斷路所用的探頭裝置應(yīng)該具有超高的精度，其中它的探頭(將會與每個電極的兩側(cè)接觸)定位誤差應(yīng)在±10μm之內(nèi)。相應(yīng)地，會招致所述探頭裝置過高的制作成本。于是，這種探頭裝置的價格很高，而且這種探頭裝置的維修費用也高，所以，存在的問題是PDP的制造成本大大地增加了。

另外，PDP的每個電極僅為80μm，因此，應(yīng)該使普通探頭的尖端尖銳化。相應(yīng)地，在重復(fù)測量的過程中，容易使普通探頭的尖端磨損，于是就存在要不斷更換新探頭的麻煩，以及過高的更換費用的經(jīng)濟負(fù)擔(dān)。此外，電極本身也會受到探頭的尖銳尖端的損害，致使PDP的瑕疵率提高。

發(fā)明內(nèi)容

因此，在注意到現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題的同時作出本發(fā)明。本發(fā)明的目的在于提供一種測試等離子體顯示板各電極的短路和斷路所用的探頭，它無需要用超高精度制作的測試設(shè)備，也無需頻繁地重新更換探頭，同時也沒有損害電極的危險。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供一種探頭裝置，用于測試PDP各電極的短路和斷路，它采用滾動探頭代替具有尖銳尖端的普通探頭。

按照本發(fā)明，用微信息處理器計算與探頭滾動接觸的每個電極的一側(cè)與電極另一側(cè)之間的電阻值，并根據(jù)計算的值確定電極是否短路或斷路。于是，可以得到極為精確的測試結(jié)果，省除與探頭或電極的磨損和損壞有關(guān)的問題，而且由于無需超高精度的技術(shù)，可以維持本探頭裝置的制作成本。

附圖說明

從以下參照附圖的詳細(xì)描述，將更清除地理解本發(fā)明的上述目的、特點和其它優(yōu)點，其中：

圖1是表示本發(fā)明探頭總體裝置的透視圖；

圖2是表示本發(fā)明探頭總體結(jié)構(gòu)及工作情況的縱剖面圖；

圖3是表示本發(fā)明探頭尖端的示意圖；

圖4是說明本發(fā)明取樣過程的曲線；

圖5是表示就探頭尖端的技術(shù)要求方面限制的示意圖。

<附圖基本部件的說明>

1：電機????????????????????2：電極

3：探頭????????????????????4：尖端

5：軸承????????????????????6：支承框架

7：耦接器??????????????????8：開孔

9：滾動檢測裝置

具體實施方式

以下將參照附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的探頭裝置。

如圖1和2所示，本發(fā)明的探頭裝置包括與電極2接觸的探頭3，并由電機1使其滾動；探頭3的一端形成尖端4；支承框架6用以支承探頭3的中心部分和電機1，該支承部分6設(shè)有軸承，以使探頭能夠滾動；耦接器7用于使電機1與探頭3連接在一起，該耦接器7的一側(cè)設(shè)有開孔8；滾動檢測裝置9通過在開孔8的兩側(cè)發(fā)射及接收紅外線，用以檢測轉(zhuǎn)數(shù)。

在本發(fā)明的探頭裝置中，首先，將電源加給電機1，使探頭3滾動。相應(yīng)地，可將支承框架6本身看作一個電極。

另外，如圖2所示，探頭3的尖端4斜著與電極2接觸。于是，通過探頭3的尖端4與電極2的點接觸，與上下探頭都與電極2接觸的普通探頭裝置相比，在探頭3的尖端4以滾動速度“a”在電極2上滾動的條件下，同時與電極2的滾動接觸與電極2的移動速度同步，明顯地減少了對電極2造成的損傷程度。再如圖3所示，當(dāng)探頭3的尖端4在多個電極2的一側(cè)上面滾動時，電流流過探頭3、每個電極2的一側(cè)和該電極2的另一側(cè)。在這種情況下，由于通過探頭3加給電極2的電壓值保持恒定，所以根據(jù)電流的變化進行所述電阻值的計算。電流的這種變化通過模/數(shù)轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換成數(shù)字值，再從所述電阻值的變化由微信息處理機計算并判斷這種數(shù)字值。如果所述電阻值的變化偏離所能允許變化的預(yù)定范圍，則確定電極2是短路或斷路。也就是說，通過比較電極2的一端和另一端處電阻值與預(yù)定范圍的值之間的變化，可以確定電極2是否短路或斷路。