[發明專利]測試等離子體顯示板的短路和斷路用的探頭無效
| 申請號： | 00808390.8 | 申請日： | 2000-05-10 |
| 公開（公告）號： | CN1353858A | 公開（公告）日： | 2002-06-12 |
| 發明（設計）人： | 樸泰旭 | 申請（專利權）人： | 樸泰旭 |
| 主分類號： | H01J9/42 | 分類號： | H01J9/42 |
| 代理公司： | 中科專利商標代理有限責任公司 | 代理人： | 陳瑞豐 |
| 地址： | 韓國*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 測試 等離子體 顯示 短路 斷路 探頭 | ||
【權利要求書】：
1.一種探頭裝置，用于等離子體顯示板的短路和斷路測試，它包括：
探頭(3)，在因電機(1)而轉動的同時，它與電機(2)接觸；
尖端(4)，形成于所述探頭(3)的一端；
支承框架(6)，用于支承所述探頭(3)的中心部分和電機(1)，該支承框架(6)設有軸承，以使所述探頭能夠旋轉。
2.如權利要求1所述的探頭裝置，其特征在于，還包括：耦接器(7)，用于使電機(1)與探頭(3)連接，所述耦接器(7)的一側設有開孔(8)；旋轉檢測裝置，用于通過在所述開孔(8)的兩側發射及接收紅外線，檢測轉數。
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