[發明專利]輻射探測器和一種用在平面束射線照相中的設備無效
| 申請號: | 00807425.9 | 申請日: | 2000-03-30 |
| 公開(公告)號: | CN1350645A | 公開(公告)日: | 2002-05-22 |
| 發明(設計)人: | 湯姆·弗蘭克;弗拉蒂米爾·帕斯科夫;克里斯特·烏爾伯格 | 申請(專利權)人: | 埃克斯康特爾股份公司 |
| 主分類號: | G01T1/185 | 分類號: | G01T1/185;H01J47/02 |
| 代理公司: | 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所 | 代理人: | 馮譜 |
| 地址: | 瑞典丹*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 輻射 探測器 一種 平面 射線 照相 中的 設備 | ||
本發明涉及一種根據權利要求1的前序用來探測電離輻射的探測器,并且涉及一種根據根據權利要求26的前序用在平面束射線照相中的設備。
上述種類的一種探測器和一種設備在共同待決PCT申請PCT/SE98/01873中描述,該申請通過參考包括在這里。在參考資料中描述的探測器包括一個氣體平行板雪崩腔室。該探測器提供良好的分辨率、較高的X射線探測效率、及計數入射在探測器中的每個光子的可能性。當處理諸如能量探測之類的探測信號、從一定能量范圍中的光子或從在離陽極或陰極一定距離范圍處入射的光子分辨探測信號時,這進一步給出大量可能性。
當在平面束X射線照相,例如縫隙或掃描射線照相,中使用這種類型的探測器時,實現一種提供要成象的物體僅需要用低劑量X射線光子照射的設備,同時得到高質量的圖象。
對于氣體平行板雪崩腔室,已經認為必要的是,陽極和陰極板是平行的,并且已經進行較大努力以在板之間實現高平行度。這樣一種探測器是一個一維探測器,并且為了得到一個兩維圖象,通過掃描X射線束和跨過要成象的物體的探測器,能實現用于圖象的第二維。為了使X射線管加載容易和簡化機構(通過減小掃描距離),一維探測器的一種多線集合是有益的。這也縮短掃描時間。
對于這樣一種多線探測器,能疊置多個一維探測器。在這樣一種情況下,希望探測器與X射線源對準。當探測器的板是平行的時,包括多個一維探測器的探測器單元的裝配和對準是復雜和耗時的。
本發明的一個主要目的在于,提供一種用來探測電離輻射的一維探測器,該探測器采用雪崩放大,并且能與他一維探測器疊置,以便以簡單和成本有效的方式形成一個探測器單元。
這種和其他目的由根據權利要求1的一種探測器實現。
通過權利要求1的特征也實現這樣一種探測器,該探測器能提供良好的分辨率、高的X射線探測效率、及計數入射在探測器中的每個光子的可能性。
也得到一種能提供對于X射線的良好能量分辨率的探測器。
也實現這樣一種探測器,該探測器能在高X射線通量下操作而沒有性能降低并且具有長壽命。
通過權利要求1的特征也實現一種用于任何種類輻射的有效探測的探測器,這些輻射包括電磁輻射、以及包括基本粒子的入射粒子。
本發明的一個目的還在于,提供一種用在平面束射線照相中的設備,該設備包括用來探測電離輻射的至少一個一維探測器,該探測器采用雪崩放大,并且能與他一維探測器疊置,以便以簡單和成本有效的方式形成一個探測器單元。
這種和其他目的由根據權利要求26的一種設備實現。
通過權利要求26的特征也實現一種用在平面束射線照相,例如縫隙或掃描射線照相,中的設備,該設備能提供要成象的物體僅需要用低劑量X射線光子照射,同時得到高質量的圖象。
也實現一種用在平面束射線照相中的設備,其中能檢測入射在探測器上的X射線光子的主要部分,以便進一步計數或積分從而得到一個用于圖象的每個象素的值。
也實現一種用在平面束射線照相中的設備,其中強烈減小由散射在要檢查的物體中的輻射引起的圖象噪聲。
也實現一種用在平面束射線照相中的設備,其中減小由X射線能量譜的散布引起的圖象噪聲。
也實現一種用在平面束射線照相中的設備,包括一個簡單和便宜的探測器,該探測器能借助于較高X射線探測效率和借助于對于X射線的良好能量分辨率操作。
另外也實現一種用在平面束射線照相中的設備,包括一個能在高X射線通量下操作而沒有性能降低并且具有長壽命的探測器。
圖1以整體視圖示意表明一種根據本發明一個一般實施例用于平面束射線照相的設備。
圖2a是根據本發明一個第一特定實施例的一種探測器的、在圖1中的II-II處得到的示意、部分放大剖視圖。
圖2b是根據本發明一個第二特定實施例的一種探測器的、在圖1中的II-II處得到的示意、部分放大剖視圖。
圖2c是根據本發明一個第三特定實施例的一種探測器的、在圖1中的II-II處得到的示意、部分放大剖視圖。
圖2d以整體視圖示意表示包括根據本發明一個第四特定實施例的探測器的用于平面束射線照相的設備。
圖2e以整體視圖示意表示包括根據本發明一個第五特定實施例的探測器的用于平面束射線照相的設備。
圖3是一個X射線源和一個由讀出帶條形成的電極的一個實施例的示意圖。
圖4是一個X射線源和一個由分段讀出帶條形成的電極的一個第二實施例的示意俯視圖。
圖5是根據本發明一個實施例帶有疊置探測器的示意剖視圖。
圖6是根據本發明另一個實施例帶有疊置探測器的示意剖視圖。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于埃克斯康特爾股份公司,未經埃克斯康特爾股份公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/00807425.9/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:加香片狀洗滌劑
- 下一篇:用于傳送數字傳輸協議的參量的方法





