[發明專利]半導體器件及其制造方法有效
| 申請號: | 00802618.1 | 申請日: | 2000-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN1337065A | 公開(公告)日: | 2002-02-20 |
| 發明(設計)人: | 若林猛 | 申請(專利權)人: | 卡西歐計算機株式會社 |
| 主分類號: | H01L23/31 | 分類號: | H01L23/31;H01L21/56 |
| 代理公司: | 永新專利商標代理有限公司 | 代理人: | 蹇煒 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 半導體器件 及其 制造 方法 | ||
1.一種半導體器件,包括:
一個半導體基片(1′),它具有一個上表面、一個與上表面相對的下表面、在上表面和下表面之間延伸的側面(1a)、以及在上表面上形成的多個外連接端(2,6);和
一個密封膜(13),覆蓋半導體基片(1′)的上表面,使外連接端(2,6)在一個表面上暴露出來,并且覆蓋側面(1a)到半導體基片(1′)的厚度的至少一半。
2.根據權利要求1所述的半導體器件,其中,覆蓋半導體基片(1′)的上表面的密封膜(13)基本上與外連接端(6)的上表面是平齊的。
3.根據權利要求1或2所述的半導體器件,其中,密封膜(13)完全覆蓋側面(1a)。
4.根據權利要求1或2所述的半導體器件,其中,密封膜(13)覆蓋側面(1a)到半導體基片(1′)的厚度的一半。
5.根據權利要求4所述的半導體器件,其中,覆蓋半導體基片(1′)的側面的密封膜(13)的表面基本上與沒有覆蓋密封膜(13)的半導體基片(1′)的部分的側面是平齊的。
6.根據權利要求1所述的半導體器件,其中,密封膜(13,17)覆蓋半導體基片(1′)的所有表面和側面。
7.一種半導體器件,包括:
一個具有上表面和側面的半導體基片(1′);
在半導體基片(1′)的一個表面上形成的多個連接凸臺(2);??一個絕緣膜(3),它具有使連接凸臺(2)暴露出來的開口,并且覆蓋半導體基片(1′)的上表面;
與連接凸臺(2)相連的布線(5),設置在絕緣膜(3)上;
與布線(5)相連的柱形電極(6),該柱形電極(6)具有頂部表面;以及
一個密封膜(13),覆蓋半導體基片(1′)的上表面和從頂部表面到半導體基片(1′)的厚度的至少一半的側面(1a),并使柱形電極(6)的頂部表面露出。
8.根據權利要求7所述的半導體器件,其中,覆蓋半導體基片(1′)的上表面的密封膜(13)基本上與柱形電極(6)的頂部表面是平齊的。
9.根據權利要求7或8所述的半導體器件,其中,密封膜(13)完全覆蓋半導體基片的側面(1a)。
10.根據權利要求7或8所述的半導體器件,其中,密封膜(13,17)覆蓋半導體基片(7′)的所有表面和側面。
11.一種制造半導體器件的方法,包括下列步驟:
制備一個半導體晶片(1),它具有一個上表面、一個與上表面相對的下表面、在上表面和下表面之間延伸的側面(1a)、以及在上表面上形成的多個外連接端(2,6);
使位于半導體晶片上的芯片形成區域之間的部分形成槽(12),每個槽(12)從上表面延伸到半導體晶片(1)的厚度的至少一半;
在半導體晶片(1)的上表面形成一個密封膜(13),將槽(12)填充,并且使外連接端(2,6)的一個表面露出;以及
沿著槽(12)切割密封膜(13),除去部分密封膜(13),所除去的部分的寬度比槽(12)要小。
12.根據權利要求11所述的方法,進一步包括以下步驟:在半導體晶片(1)上開槽(12)之前,把一個切割膠帶(11)粘到半導體晶片(1)上。
13.根據權利要求12所述的方法,進一步包括以下步驟:在切割密封膜(13)之后,把一個支撐膠帶(14)粘到密封膜(13)的上表面上;以及把切割膠帶(11)從半導體晶片(1)上剝離。
14.根據權利要求11所述的方法,進一步包括以下步驟:在密封膜(13)被切割之后,將半導體晶片(1)的下表面進行拋光,由此減少半導體晶片(1)的厚度。
15.根據權利要求11所述的方法,其中,在密封膜(13)被切割之前,在半導體晶片(1)的下表面形成另一個密封膜(17)。
16.一種制造半導體器件的方法,包括下列步驟:
制備一個半導體晶片(1),它具有上表面和側面(1a),并且在上表面具有多個連接凸臺(2);
形成一個絕緣膜(13),它覆蓋半導體晶片(1)的上表面,并具有使連接凸臺(2)露出的開口,;
在絕緣膜(13)上形成布線(5),所述的布線(5)與連接凸臺(2)相連;
在布線(5)上形成柱形電極(6);以及
形成一個密封膜(13),它覆蓋半導體晶片(1)的上表面和一部分側面(1a),被覆蓋的側面(1a)從上表面延伸到半導體晶片(1)的厚度的至少一半;并且所述的密封膜(13)使柱形電極(6)的一個表面露出。
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